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磁通Magnaflux裂紋比對器用于測量液體滲透探傷（LPI）過程中所確認的缺陷顯示的實際尺寸。比對器件號514048，以英寸為單位測量裂紋，比對器件號514049，以公制為單位測量裂紋，比對器件號514050，已經過Pratt & Whitney認證。

磁通Magnaflux裂紋比對器

件號:

• 514048 - 通用型裂紋比對器，測量范圍0.005" --- 0.125"

• 514049 - 通用型裂紋比對器，測量范圍0.2mm --- 3.0mm

• 514050 - 經Pratt & Whitney認證的裂紋比對器，測量范圍0.010" --- 0.180"，符合Pratt & Whitney要求（P&W 參考號 - TAM 135273）

?上海玖橫儀器有限公司是一家專業從事儀器儀表研發、生產、銷售及服務的企業。超聲波探傷儀：（EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go+超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀，新款OmniScan MX3全聚焦相控陣超聲波探傷儀）；超聲波測厚儀：（27MG超聲波測厚儀、45MG超聲波測厚儀、38DL PLUS超聲波測厚儀、DM5E超聲波測厚儀、CL5超聲波測厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應測厚儀，ETG-100電磁高溫測厚儀）；超聲波探頭；定制相控陣探頭；渦流探傷儀：（NORTEC 600渦流探傷儀）；硬度計；DR平板探測器：1313DX ，1515DXT-I ，2520DX ，2530HE，4343HE， Dexela 1207 ，Dexela 1313 ，Dexela 2121S ，Dexela CMOS平板探測器 ，XRD 0822 ，XRD 1611 ，XRD 1621 ，XRD 4343RF ，XRD 3025 ，XRpad 4336 ，XRpad 4343 F ，XRpad2 3025 ，XRpad2 4336。內窺鏡：（IPLEX NX奧林巴斯內窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內窺鏡、XLGo+工業視頻內窺鏡GE、XL Detect+工業視頻內窺鏡GE新款、UVin專業紫外視頻內窺鏡、）；脈沖發生器：（DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR）；合金分析儀：(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表