熱膨脹儀DIL 402 Expedis Classic集成了熱膨脹測量領域的技術，為寬廣應用領域內的專業級的應用而設計。DIL Expedis 系列的所有型號均基于革命性的 NanoEye 測量系統，在測量范圍與精度兩方面達到了新的高度。

每一納米均納入計算
量程與分辨率的新的*

對于傳統的熱膨脹儀，測試量程與分辨率這兩個參數很難兩全：高分辨率只能在很小的量程中實現；如果要得到較大量程，只能犧牲一定的分辨率。

新型自反饋光電位移測量系統 NanoEye 克服了這一技術上的矛盾，能夠同時提供高的分辨率、的線性度與無以匹敵的寬廣量程。

工作原理 在測試過程中，當樣品發生膨脹時，圖中所有的綠色部分將在線性導軌（圖中藍色部分）的引導下向后移動，并由光學解碼器測出相應的長度變化。