LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀提升到了一個更高的水平，升級版PIDS技術、優化的132枚檢測器，保證了儀器分辨率更高，結果更準確，再現性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。PIDS技術，真正實現10nm粒徑測量；新型的干、濕進樣模塊，“即插即用"，滿足不同的分析要求，靈活便利.

LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀

LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀

 

主要特點

• 優于ISO 13 320技術標準
• 符合FDA的21 CFR Part 11標準
• 檢測器數量更多，高達132枚獨立物理位置檢測器，對應高達136個真實數據通道，能夠清晰區分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，確保不缺漏絲毫信息，快速、準確的真實粒度測量。
• 設計的“X”型對數排布檢測器陣列，可以準確記錄散射光強信號，不管單峰、多峰，準確分析粒度分布。
• 全自動運算分析功能，多峰自動檢測，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型，提供客觀的報告。
• 升級版PIDS技術提供創新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實現10nm下限峰值測量。
• PIDS技術不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。
• 納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能強大，真正10nm的測量可使其作為獨立的高分辨率納米粒度分析儀使用。
• 新一代固體激光光源，無需預熱，7萬小時以上開機使用壽命 。
• 并行式信號采集與傳輸，確保信號保持高信噪比、無時差、高通量。

 多波長和偏振光分析技術令粒度分布在寬動態范圍內的準確性分析獲得高度保障。
• 多種自動化樣品分散系統，“即插即用”，數秒即可完成切換，高效便利。