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Fizeau 干涉儀(HO-OFIZ-215)
閱讀:96 發布時間:2024-11-18菲佐干涉儀是最靈活的干涉儀,可通過非接觸配置測量平面和球面。它的參考光路和測量光路相同,因此是一種結構緊湊、抗震的系統。Fizeau Interferometer與Fabry-Perot interferometer相似,都由兩個反射面組成。不過,在菲佐干涉儀中,第二個表面通常是全反射的。角度分束器捕捉參考光束和測量光束。
Holmarc 菲佐干涉儀采用開放式垂直配置。它適用于平面和球面的常規測量。光源采用 DPSS 激光器。垂直方向的光學布局便于放置測試元件。CCD 攝像機捕捉到的條紋由計算機進行分析。該設備既可用于生產過程中的光學質量控制,也可用于實驗室的常規檢測。
功能
可進行高精度平面度測量
使用靜態條紋分析軟件
儀器采用直立式結構,便于固定測試樣品
使用高質量的像差校正光學元件
規格
樣品尺寸:≤ 100 毫米
參考平面:λ/20 P V 直徑 100 mm 厚度 25 mm
精度:≤ λ / 20 PV
激光源:DPSS 5.0 mW 532 nm
校準:通過 傾斜樣品底座
攝像頭:CCD 1280 x 1024 分辨率
分析:使用 條紋分析軟件
重量:約 25 千克
電源:220 伏 ,50 赫茲
包括的組件
532nm (5 mW) DPSS 激光源、
空間濾波器組件
分光鏡
帶支架的準直透鏡
帶支架的參考平面
測試平面支架
帶 CCD 等的變焦鏡頭