AQ6360是一款基于衍射光柵技術(shù)的經(jīng)濟(jì)高效光譜分析儀。AQ6360滿足電信設(shè)備（如激光器、光收發(fā)器和光放大器）工業(yè)制造的典型測量需求。

AQ6360的波長范圍為1200到1650納米，用于制造測試的理想性能。其自由空間光學(xué)輸入結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)保證了高耦合效率和測量重復(fù)性。AQ6360的附加功能和功能包括內(nèi)置的分析功能和以太網(wǎng)和GPIB遠(yuǎn)程接口。

用于制造測試的理想性能

AQ6360滿足電信設(shè)備（如激光器、光收發(fā)器和光放大器）工業(yè)制造的典型測量需求。

• 波長范圍：1200~1650nm

• 波長分辨率：0.1~2nm

• 高波長精度：±0.02nm

• 高動態(tài)范圍：55dB

• 寬測量范圍：+20~－80dBm

掃描速度快兩倍

AQ6360的掃描速度比我們?yōu)檠邪l(fā)目的而設(shè)計(jì)的型號快兩倍。

自由空間光學(xué)輸入

自由空間光學(xué)輸入結(jié)構(gòu)是保證高耦合效率和測量重復(fù)性的有效方法。

雙重目的
支持單模和多模光纖

多功能
支持平面和角度拋光連接器

安心無憂
防損壞的內(nèi)部輸入連接器

免維護(hù)
無內(nèi)部光纖需要清潔

內(nèi)置波長參考源（工廠選件）

節(jié)省空間的4U高度（比AQ6370系列低1U）

AQ6370D

AQ6360

AQ6370系列兼容操作

AQ6360沿用了我們OSA系列的屏幕和菜單布局――全shi界數(shù)以千計(jì)的用戶gong認(rèn)的直觀、易用的布局。

多點(diǎn)觸摸屏

點(diǎn)擊、拖動、縮小和放大。高分辨率、響應(yīng)式8.4英寸多點(diǎn)觸控電容式觸摸屏使儀器操作變得簡單直觀。

內(nèi)置分析功能可提高生產(chǎn)力

可提供十多種數(shù)據(jù)分析功能，包括WDM（OSNR）、SMSR、DFB-LD、EDFA和光譜寬度。

遠(yuǎn)程操作準(zhǔn)備就緒 

以太網(wǎng)和GPIB遠(yuǎn)程接口
AQ6360配備GP-IB和以太網(wǎng)接口，用于遠(yuǎn)程訪問和構(gòu)建自動測試系統(tǒng)。

兼容AQ6370D的遠(yuǎn)程命令
其與AQ6370D和AQ6317指令兼容，便于編程。

LD芯片和TOSA

AQ6360通過用于晶圓、LD芯片、TO CAN和TOSA測量的自由空間激光束的多模光纖，提高測量效率。這是由于OSA的自由空間輸入結(jié)構(gòu)，該結(jié)構(gòu)支持多模光纖，而不會出現(xiàn)多模和單模光纖不匹配時(shí)發(fā)生的高插入損耗。

可以快速準(zhǔn)確地測量激光邊模抑制比（SMSR）。

NA轉(zhuǎn)換適配器

數(shù)值孔徑（NA）轉(zhuǎn)換適配器使得多模光纖測量更精確更穩(wěn)定。其是專門為橫河OSA設(shè)計(jì)的du特適配器。

DFB-LD 光譜 (GI 50/125 μm)

光收發(fā)器

結(jié)合誤碼率測試（BERT）設(shè)備，AQ6360可以測量收發(fā)器和LD模塊的中心波長和光譜寬度。
為測試光收發(fā)器的BER曲線，將ASE源的寬帶光加入信號中。AQ6360具有高靈敏度，因而能夠比低性能非光柵設(shè)計(jì)更精確地測量OSNR條件。

光放大器

AQ6360可以通過“EDFA-NF"的分析功能非常簡單的計(jì)算出析摻鉺光纖放大器的噪聲系數(shù)。放大器測試的典型測量設(shè)置包括一組波分復(fù)用激光器、一個(gè)用于調(diào)諧激光器功率電平的衰減器、一個(gè)光譜分析儀。OSA需要兩個(gè)高分辨率頻譜。一條曲線在擴(kuò)增前獲取，一條曲線在擴(kuò)增后獲取。從獲得的光譜中，EDFA-NF分析功能自動檢測激光峰值，提取所需的測量值，執(zhí)行計(jì)算并顯示DUT中GAIN和NF值表格。

光放大器測試的典型實(shí)驗(yàn)設(shè)置

光放大器分析的自動化程序提供一個(gè)包含相關(guān)參數(shù)的表格。

AQ9441連接器適配器

后綴	說明
-FC	FC類型
-SC	SC類型

數(shù)值孔徑轉(zhuǎn)換光纖

通過連接一個(gè)具有比較大的NA的GI 50或GI 62.5光纖到NA轉(zhuǎn)換光纖，NA轉(zhuǎn)換光纖減少了在輸入時(shí)發(fā)生的損失，并提高了被動設(shè)備測量過程中的測量動態(tài)范圍和有源設(shè)備測量過程中的光電平測量的穩(wěn)定性。