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參數(shù)查看，快速清晰。

推進(jìn)大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。4200A-SCS 參數(shù)分析儀從設(shè)置到運(yùn)行檢定測試的時(shí)間減少高達(dá) 50％，從而實(shí)現(xiàn)的測量和分析能力。此外，嵌入式測量專業(yè)知識(shí)提供的測試指導(dǎo)，并讓您對(duì)最終結(jié)果充滿信息。

特點(diǎn)

• 用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測量類型的高級(jí)測量硬件
• 立即使用 Clarius 軟件中所含的數(shù)百種用戶可修改應(yīng)用程序測試開始測試
• 自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)
 

準(zhǔn)確的 C-V 表征

使用吉時(shí)利的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數(shù)飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時(shí)利行業(yè)的 CVU 架構(gòu)中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進(jìn)行低噪聲電容測量。

特點(diǎn)

• 同類產(chǎn)品中能夠驅(qū)動(dòng)1 V AC 電源電壓的 CV 表
• 1 kHz 頻率，分辨率從1 kHz 到 10 MHz
• 測量電容、電導(dǎo)和導(dǎo)納
• 使用 4200A-CVIV 多路開關(guān)最多可測量四個(gè)通道

使用 4215-CVU 進(jìn)行 Femtofarad (1e-15F) 電容測量

測量、 切換、 重復(fù)。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動(dòng)在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設(shè)置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時(shí)輕松排除故障。

特點(diǎn)

• 無需重新布線即可將 C-V 測量移動(dòng)到任何設(shè)備終端
• 用戶可配置低電流功能
• 個(gè)性化輸出通道名稱
• 查看實(shí)時(shí)測試狀態(tài)

穩(wěn)定的低電流測量，適用于 I-V 檢定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號(hào)的源測量單位 (SMU) 可供選擇，可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現(xiàn)場可安裝單元和可選的預(yù)放大器模塊，Keithley 可確保您獲得最準(zhǔn)確的低電流測量，而停機(jī)時(shí)間很少甚至沒有。

特點(diǎn)

• 不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
• 進(jìn)行 飛安測量
• 多達(dá) 9 個(gè) SMU 通道
• 針對(duì)長電纜或大卡盤進(jìn)行了優(yōu)化

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案

4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動(dòng)和半自動(dòng)晶片探測器和低溫控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點(diǎn)

• “點(diǎn)擊"測試定序
• “手動(dòng)"探測器模式測試探測器功能
• 假探測器模式無需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試

降低成本并保護(hù)您的投資

吉時(shí)利保障計(jì)劃以按需服務(wù)事件的一小部分成本提供快速、高質(zhì)量的服務(wù)。 只需點(diǎn)擊一下或一個(gè)電話即可獲得維修服務(wù)，在此過程中，無需報(bào)價(jià)或填寫采購單，也不會(huì)有審批延誤。

了解詳情

生物傳感器檢定

生物傳感器或 bioFET 將對(duì)分析物的生物響應(yīng)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。集成到 4200A-SCS 中的 Clarius 軟件包括一個(gè)用于測試 bioFET 的項(xiàng)目。以此為起點(diǎn)檢定生物傳感器的傳輸和輸出特性，并從這里展開工作。

飛法電容測量

使用 4215-CVU 模塊測量亞毫微微法拉電容。通過驅(qū)動(dòng) 1 V AC，在測量 1 fF 電容器時(shí)，4215-CVU 的噪聲水平可低至 6 attofarad。這只是 Clarius 軟件隨附的用于測量電容和提取重要參數(shù)的數(shù)十種應(yīng)用程序之一。

使用 4215-CVU 進(jìn)行 Femtofarad (1e-15F) 電容測量

進(jìn)行電容和交流阻抗測量

特點(diǎn)

• 內(nèi)置飛法測量功能
• 從 1kHz 到 10MHz 的 10,000 個(gè)頻率步進(jìn)
• 使用用戶庫定制任何設(shè)備的任何測試

半導(dǎo)體和 NVM 可靠性

通過全面脈沖 I-V 檢定在測試中利用新技術(shù)。 4200A-SCS 為 NVRAM 技術(shù)提供支持和即用型測試，從浮動(dòng)門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM，不一而足。 電流和電壓雙源和測量功能同時(shí)支持瞬態(tài)和 I-V 域檢定。

評(píng)估 MOSFET 設(shè)備的熱載波感應(yīng)劣化

用于非易失內(nèi)存測試的單納秒脈沖解決方案

非易失內(nèi)存技術(shù)脈沖 I-V 檢定

提供適合高阻抗應(yīng)用的 C-V 測量功能

采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術(shù)分析高電阻樣本的電容。 該技術(shù)可通過僅使用源測量單元 (SMU) 儀器實(shí)現(xiàn)應(yīng)用，同時(shí)可與 4210-CVU 結(jié)合使用，執(zhí)行更高頻率測量。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀可在高阻抗設(shè)備上執(zhí)行極低頻電容-電壓測量

簡化 MOSFET/MOSCAP 設(shè)備檢定的提示和技術(shù)

特點(diǎn)

• .01 ~ 10 Hz 頻率范圍，1 pF ~ 10 nF 靈敏度
• 3? 位典型分辨率，最小典型值 10 fF

使用長電纜或電容式夾具時(shí)進(jìn)行測試

當(dāng)測試需要非常長的電纜或具有較高電容的夾具時(shí)，請(qǐng)使用 4201 或4211-SMU。這些 SMU 非常適合連接 LCD 測試站、探測器、開關(guān)矩陣或任何其他大型或復(fù)雜的測試儀。現(xiàn)場可安裝版本使您無需將設(shè)備返回服務(wù)中心即可增加容量。

使用 4201-SMU 和 4211-SMU，通過高測試連接電容進(jìn)行穩(wěn)定的低電流測量

材料電阻率

使用集成了 SMU 的 4200A-SCS，可通過四點(diǎn)同軸探頭或范德堡法輕松測量電阻率。 內(nèi)含測試可自動(dòng)重復(fù)執(zhí)行范德堡計(jì)算，節(jié)省您寶貴的研究時(shí)間。 10aA 的電流分辨率和大于 10----16 歐姆的輸入阻抗可提供更準(zhǔn)確和精準(zhǔn)的結(jié)果。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀和四點(diǎn)同軸探頭可用于執(zhí)行半導(dǎo)體材料電阻率測量

4200A-SCS 參數(shù)分析儀可用于執(zhí)行范德堡和霍爾電壓測量

MOSFET 檢定

4200A-SCS 可容納所有必要的儀器，用于通過組件或晶圓測試執(zhí)行全面的 MOS 設(shè)備檢定。 內(nèi)含測試和項(xiàng)目可以解決 MOSCap 的氧化物厚度、門限電壓、摻雜濃度、移動(dòng)離子濃度等問題。 只需觸摸一個(gè)儀器盒中的按鈕，即可運(yùn)行所有這些測試。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀可用于執(zhí)行 MOS 電容 C?V 檢定

從實(shí)驗(yàn)室到晶圓廠的自動(dòng)化控制

Keithley 自動(dòng)化檢定套件 (ACS) 可控制您的設(shè)備。無論您是需要控制工作臺(tái)上的幾臺(tái)儀器，還是需要自動(dòng)化整個(gè)測試機(jī)架以進(jìn)行生產(chǎn)，ACS 均能為設(shè)備檢定、參數(shù)測試、可靠性測試和簡單的功能測試提供靈活的交互式環(huán)境。

• 執(zhí)行簡單的一次性測試或構(gòu)建復(fù)雜的項(xiàng)目樹
• 在 ACS 中使用 Python 編寫代碼以獲得無限靈活性和控制力
• 手動(dòng)或自動(dòng)晶圓探測器控制
• 數(shù)據(jù)管理和統(tǒng)計(jì)分析功能

開始自動(dòng)化

Clarius+ 分析套件

通過 Clarius+ 軟件套件，您可以輕松獲得材料和設(shè)備的檢定洞察。Clarius 在 4200A-SCS 上本地運(yùn)行，可規(guī)劃、配置和分析測試結(jié)果。此外，還可將 Clarius 安裝在任何 Windows 10 PC 上，以便在實(shí)驗(yàn)室中運(yùn)行測試之前規(guī)劃和配置測試，或在收集數(shù)據(jù)后分析數(shù)據(jù)。

• 200 多項(xiàng)預(yù)先配置的測試，可加速實(shí)驗(yàn)室運(yùn)轉(zhuǎn)
• 由 Keithley 工程師精心收集的真實(shí)數(shù)據(jù)
• 內(nèi)置上下文幫助和應(yīng)用程序指南
• 提供監(jiān)控模式，可實(shí)時(shí)查看結(jié)果

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