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| 產地類別 | 進口 |
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該混合K-邊緣/XRF分析儀的目的是同時識別和定量多個重元素在均相液體或固體樣品。它與破壞性化學分析方法具有大致相同的測量精度，但使用起來更簡單、更快。該儀器是在KFK Karlsruhe開發的。1，并可從Mirion獲得許可。
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mirionK-Edge/XRF混合分析儀 mirionK-Edge/XRF混合分析儀 mirionK-Edge/XRF混合分析儀
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*原子能機構(原子能機構)作為香港教育中心和KEDG進行例行檢查 包括高放射性樣品在內的多種材料中重元素的無損現場分析 幾種元素的同時分析 不需要樣品準備 只需2毫升的樣品材料 精度通常優于0.5% 典型的檢測時間為5到20分鐘
瑞軒電子科技（上海）有限公司-------*儀器儀表供應商
是全國儀器儀表行業“產品研發、銷售、技術培訓、設備維修”為一體供應商
公司經營品牌：
GE druck, GE Panametrics,GE Bently,Wika,HBM,Tektronix,BEAMEX,SIKA,E+E，美國華瑞RAE,梅思安MSA，德爾格Draeger，德國IKA，美國奧豪斯，美國哈希hach,安捷倫等品牌，派克Parker,阿托Atos,力士樂Rexroth,哈威Hawe，德國KK,英國Time Electronics,美國斯坦福,英國密其，德國LR-Cal,德國Schleich,澳大利TPS,德國卡爾德意志等進口品牌
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