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詳細介紹
物鏡鏡頭378-802-6日本三豐Mitutoyo顯微鏡
無限遠校正
?用于明眼界觀察
?長工作距離
?計劃?阿波羅規格
●上述規格欄的分辨率及物鏡單體的焦點深度是根據基準波長（λ＝0.55μm）計算出的值。
※1觀察反射率低的被檢物時，推薦使用與所使用的顯微鏡對應的偏光裝置。
※2觀察反射率低的被檢物時，推薦同時使用M Plan Apo2×1/4波長板（No.02 ALN370）和偏光裝置。注）動作距離縮短4mm。
※3單體物鏡安裝時的規格（根據安裝的顯微鏡不同，有時無法滿足標記規格）。
單獨使用垂直反射照明時，請將入射到物鏡上的照明光束設置在16.8mm（物鏡瞳孔直徑）以上。
物鏡鏡頭378-802-6日本三豐Mitutoyo顯微鏡
M Plan Apo 100 × | 378-806-3 | 0.70 | 6.0 | 2 | 0.4 | 0.6 | 0.24 | 0.05 × 0.06 | 320 |
Plan Apo HR M Plan Apo HR 5 × ※ 3 |
378-787-4 |
0.21 |
25.5 |
40 |
1.3 |
6.2 |
4.8 |
0.96 × 1.28 |
285 |
M Plan Apo HR 10 × ※ 3 | 378-788-4 | 0.42 | 15.0 | 20 | 0.7 | 1.60 | 2.4 | 0.48 × 0.64 | 460 |
M Plan Apo HR 50 × | 378-814-4 | 0.75 | 5.2 | 4 | 0.4 | 0.49 | 0.48 | 0.10 × 0.13 | 400 |
M Plan Apo HR 100 × | 378-815-4 | 0.90 | 1.3 | 2 | 0.3 | 0.34 | 0.24 | 0.05 × 0.06 | 410 |
無限遠校正
?用于明眼界觀察
?長工作距離
?計劃?阿波羅規格
●上述規格欄的分辨率及物鏡單體的焦點深度是根據基準波長（λ＝0.55μm）計算出的值。
※1觀察反射率低的被檢物時，推薦使用與所使用的顯微鏡對應的偏光裝置。
※2觀察反射率低的被檢物時，推薦同時使用M Plan Apo2×1/4波長板（No.02 ALN370）和偏光裝置。注）動作距離縮短4mm。
※3單體物鏡安裝時的規格（根據安裝的顯微鏡不同，有時無法滿足標記規格）。
單獨使用垂直反射照明時，請將入射到物鏡上的照明光束設置在16.8mm（物鏡瞳孔直徑）以上。
無限遠校正
?用于明眼界觀察
?長工作距離
?計劃?阿波羅規格
●上述規格欄的分辨率及物鏡單體的焦點深度是根據基準波長（λ＝0.55μm）計算出的值。
※1觀察反射率低的被檢物時，推薦使用與所使用的顯微鏡對應的偏光裝置。
※2觀察反射率低的被檢物時，推薦同時使用M Plan Apo2×1/4波長板（No.02 ALN370）和偏光裝置。注）動作距離縮短4mm。
※3單體物鏡安裝時的規格（根據安裝的顯微鏡不同，有時無法滿足標記規格）。
單獨使用垂直反射照明時，請將入射到物鏡上的照明光束設置在16.8mm（物鏡瞳孔直徑）以上。
| OHM | OA-QM5-600 |
| IMADA-SS | SVZ-200NB-200R3 INCLUDING GC-51 |
| 3M | LM1 |
| IIJIMA | IM-100P |
| RO-103S | |
| SSM-21P | |
| MCR-4V | |
| TOKYO | E-MC-S57A |
| HRC-50 | |
| HRC-25 | |
| OHNISHI | OS-146A |
| Mitutoyo | 152-402 |
| Lobtex | R1B1 |
| Mecome | HS-121-N |
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