核心優勢.ore strengths
配套自主知識產權XRD 數據分析軟件 包，可以完成物相鑒定及定量分析工作
較高的信噪比，提高采樣效率，數據 采集時間小于15~20 分鐘。 (半導體
樣品小于5分鐘)
良好光路系統設計，物相定量分析達 到臺式機的水平，檢出限大于3wt.%, 相對誤差優于10%
選擇使用Mo 靶光源，能量更高，無 需換靶即可完成絕大部分晶體測試，且可提高樣品的裝填厚度
技術參數Technical paramete
X光管靶材 |
M o 靶 |
正常工作功率 |
20w(50kV,0.4mA) |
額定工作功率 |
50w(50kV,1.0mA) |
探測器 |
HPC二維探測器 |
探測器像素 |
1280*256 |
2-theta角度范圍 |
2.5-27.5° |
角分辨率 |
≈0.25°(FWHM` |
樣品量 |
≈15mc |
樣品粒度 |
<120μ m |
樣品采集時間 |
600-1200s |
外形尺寸 |
58cm×42cm×23cm |
凈重 |
≈20.0 kg |
工作環境條件 |
15-35℃ |
應 用 案 例Application case
標準物測量：
對國際晶體學會(IUCr)提供的三組標準數據進行定量分析測試，結果如圖所示。IUCr 數據為樣品實際稱重
數據。
| IUCr | TopMINI |
Al?O? | 5.04 | 5.91 |
CaF | 1.36 | 1.98 |
ZnO | 93.59 | 92.11 |
從上述三組標樣分析對比結果可以看出， TopMINI 的分析精度誤差<3%,檢出限為1%
分析結果見下圖。
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