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XRF(THICK800A)電鍍鍍層測厚儀
性能優勢
新款Thick8000x射線熒光測厚儀秉承了上一代Thick800A的優點，在此基礎上設計了三維移動平臺，*樣品觀測系統和圖像識別功能，滿足了槽狀樣品的測試和不同規格樣品的測試，同時加上大面積的高分辨率的探測器，大大提高了準確度，為客戶提供更的測試，從而降低產品的成本，提高產品的競爭力。
技術參數
可以分析從硫到鈾之間的元素，同時可以測試24種元素之多，含量范圍一般從2個PPM到百分之99.9；鍍層厚度一般在50μm以內，不同材質略有差異，*SDD探測器，高清的工業攝像頭，儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm
應用領域
x射線熒光測厚儀主要應該用在電子電器（線路板/PCB）、五金工具、電鍍加工、制冷設備、半導體、五金配件、端子連接器、腔體等企業中。
鍍層產品圖
x射線熒光鍍層測厚儀技術參數
小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
一次可同時分析多達五層鍍層
度適應范圍為15℃至30℃
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
分析含量一般為2ppm到99.9%
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg
x射線熒光鍍層測厚儀性能優勢
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
x射線熒光鍍層測厚儀產品配置
一、硬件：主機壹臺，含下列主要部件：
(1) X光管 (2) si-pin探測器
(3) 信號檢測電子電路 (4) 高精度二維移動平臺
(5) 高清晰攝像頭 (6)高低壓電源
(7) 開放式樣品腔 (8） 雙激光定位裝置
(9) 鉛玻璃屏蔽罩
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