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X熒光貴金屬檢測儀性能特點
快，1秒鐘出結果
采用行業*極速探測器——（F-SDD）分辨率低至125eV
優勢：F-SDD的探測面積大（面積達25mm ）、探測面積越大，單位時間內接受到的信號越多；且分辨率越低，分辨效果越好；帶來高的分辨效果及測試精度
采用行業*數字多道技術
優勢：有效提高輸出效率，實現高計數率，保證采集有效計數率超過300KCPS
采用大功率X光管及*準直濾光系統
優勢：使貴金屬的激發效率更高
光閘系統
優勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統
高清晰工業攝像頭，更清晰的顯示測試點
單點測試、多點測試、網格測試模式
2D全自動移動樣品臺——可實現圖像聯動控制，單點測試、多點測試、網格測試模式
自帶高純金測試曲線
可高效區分99.9%及99.99%黃金純度
超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測
可配備貴金屬有害元素測試軟件
可測量貴金屬中有害元素，鉛、鎘等
人性化的設計
更快捷：多點測試，點哪測哪
X熒光貴金屬檢測儀應用領域
質檢中心
金銀珠寶首飾店貴金屬冶煉廠
首飾加工廠
分析測試中心
典當行貴金屬回收
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