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鍍金厚度膜厚測試儀XD-1000性能特點

鍍金厚度膜厚測試儀 采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

鍍金厚度膜厚測試儀XD-1000參數規格

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應范圍為15℃至30℃。
型號：XD-1000

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

鍍金厚度膜厚測試儀同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：100kg

產品用途

鍍金厚度膜厚測試儀廣泛應用于線路板、電子連接器、電子電器、螺栓和螺母、衛浴、五金端子板材、表面處理材料、汽車配件、五金工具、彈簧、螺絲、半導體封裝材料等產品。

配件

開放式樣品腔。

高低壓電源。

高度傳感器

保護傳感器

計算機及噴墨打印機
雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。