目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>電鍍鍍層膜厚分析儀>> XTDX光膜厚儀測厚儀
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,化工,生物產業,電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
X光膜厚儀測厚儀性能特點
專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序。
X光膜厚儀測厚儀技術指標
元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
測量對象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達：ppm。
分析含量一般為：ppm到99.9％。
多次測量重復性可達：0.1％。
長期工作穩定性為：0.1％。
標準配置
單樣品腔。
正比計數盒探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
外觀尺寸： 430×380×355mm
樣品腔尺寸：306×260×78mm
重量：30kg
應用領域
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
X光膜厚儀測厚儀金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
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