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| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,化工,電子/電池 |
產品簡介
詳細介紹
菲希爾XDLM系列X射線熒光鍍層測厚儀是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計，是用于質量控制，質量檢驗和生產監控的合適的測量儀器。
菲希爾XDLM系列 X射線熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據不同的預期用途，有不同的版本。
XDLM 231型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動的Z軸升降系統。
XDLM 232型配有可手動操控的X/Y工作臺，馬達驅動的Z軸升降系統。
XDLM 237型則配備了馬達驅動的X/Y工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程Z軸升降系統。
XDLM系列儀器帶有4個可切換準直器，3種可切換的基本濾片，采用比例接收器，測量距離為0-80mm。
使用高分辨率的CCD彩色攝像頭；
儀器重量100kg-120kg；
儀器使用時溫度范圍10℃-40℃，空氣相對濕度為≤95%，無結露；
計算機要求：帶擴展卡的計算機系統；
可按要求，提供額外的XDLM型產品更改和XDLM儀器技術咨詢。