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廣州貝拓科學技術有限公司

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當前位置：> 供求商機> Delta-薄膜光澤度儀

[供應]Delta-薄膜光澤度儀返回列表頁

貨物所在地：廣東廣州市

更新時間：2025-01-24 21:00:06

有效期：2025年1月24日 -- 2025年7月24日

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代理產品: 顯微操作儀核磁共振（NMR）原子吸收光譜（AAS）儀器鑒定用標準物質切片機納米壓痕儀、劃痕儀恒溫/加熱/干燥樣品前處理

納米粒度儀: 納米粒度儀DLS 90

接觸角測量儀: 高溫接觸角測量儀表面接觸角測試儀接觸角測量儀國產接觸角接觸角經濟型光學接觸角測量儀ALPHA 動態接觸角測量儀靜態水接觸角光學接觸角水滴角測試儀自動型接觸角分析儀

膜厚儀: 白光干涉測厚儀

表面張力儀: 全自動表面張力儀

光譜部件及外設: 光纖光譜儀

拉曼光譜儀: 顯微共聚焦拉曼光譜儀進口拉曼光譜儀手持拉曼光譜儀便攜式拉曼儀器 CVRam顯微拉曼光譜儀 WITec RISE拉曼-掃描電鏡聯用系統

差示/熱重/差熱/熱分析: 熱機械分析儀TMA7000系列熱重-差熱同步分析儀-日立-STA7200

紅外光譜（IR、傅立葉）: PerkinElmer 紅外光譜儀 Spectrum Two 400/400N 傅里葉變換紅外/近紅外成像系統

掃描探針顯微鏡/原子力: 高速共聚焦成像儀

激光粒度儀、納米粒度儀: 界達電位粒徑量測儀ELSZ-2000ZS Microtrac S3500SI圖像激光粒度分析儀 Microtrac S3500系列激光粒度分析儀 EKO DisperSizer DS-1 粒度分布分析器

低溫恒溫器: 牛津儀器光學恒溫器牛津儀器無液氦光譜學恒溫器Optistat Dry

熒光分光光度計（分子熒光: 天美熒光分光光度計 FL970 絕對量子效率測量系統Quantaurus-QY PF7/5/3系列原子熒光光度計絕對量子效率測量系統

X射線衍射儀（XRD）: BRAGG系列X射線衍射儀 XD-2/XD-3/XD-6自動X射線粉末衍射儀 PROTO AXRD Theta/Theta X射線衍射儀 PROTO AXRD 臺式X-射線衍射儀海鷗- DRON-7（M）通用X射線晶體衍射儀普析通用 XD6多晶衍射儀普析通用 XD2/3系列多晶衍射儀

激光光散射儀: 三維光散射儀LS 3D-DLS 一體式廣角靜態動態同步激光散射儀

掃描電鏡（SEM）: 原子力顯微鏡一體機 FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡 FEI “Quanta系列”環境掃描電子顯微鏡” FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡賽可 3200M 經濟型臺式掃描電鏡

電化學工作站: 多通道電化學工作站單通道電化學工作站

X熒光光譜XRF能量色散型: X射線熒光光譜儀

分析儀器-光譜: 顯微角分辨光譜儀紫外可見分光光度計

透反射率測量儀: 透反射率測量儀RT100

等離子清洗機: 真空等離子清洗機大氣常壓等離子清洗機

光學顯微鏡: 位移臺熒光顯微鏡金相顯微鏡體視顯微鏡

力學測試儀: 水平力學試驗機扭矩試驗機萬能材料試驗機

表面/界面性能測定儀: 粉末潤濕性分析儀

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供應簡介

薄膜光澤度儀利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。

詳情介紹

薄膜光澤度儀產品特點

快速、準確、無損、靈活、易用、性價比高

薄膜光澤度儀應用案例

應用領域

半導體（SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS，SOI等） LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)

LED (SiO2、光刻膠ITO等）觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等)

汽車(防霧層、Hard Coating DLC等）醫學（聚對二甲苯涂層球囊/導尿管壁厚藥膜等）

技術參數

型號	TF200-VIS	TF200-EXR	TF200-DUV	TF200-XNIR
波長范圍	380-1050nm	380-1700nm	190-1100nm	900-1700nm
厚度范圍	50nm-40um	50nm-300um	1nm-30um	10um-3mm
準確度¹	2nm	2nm	1nm	10nm
精度	0.2nm	0.2nm	0.2nm	3nm
入射角	90°	90°	90°	90°
樣品材料	透明或半透明	透明或半透明	透明或半透明	透明或半透明
測量模式	反射/透射	反射/透射	反射/透射	反射/透射
光斑尺寸²	2mm	2mm	2mm	2mm
是否能在線	是	是	是	是
掃描選擇	XY可選	XY可選	XY可選	XY可選