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徠卡金相顯微鏡 DM8000M

高產能 8寸晶元檢查及缺陷分析系統 只要一指按鍵 您就可以切換放大倍率, 照明模式或相襯模式。半導體檢查顯微鏡DM8000 M,半導體測試顯微鏡DM8000 M,封裝檢查顯微鏡DM8000M,封裝測試顯微鏡,8寸晶元檢查顯微鏡。

  提供了全新的光學設計，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (OUV, 隨檢UV 選擇) 不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品 時的產量。該機照明 基于新的 LED 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應和一體化內置技術確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環流。 LED的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 今后的使用成本.。

 只要一指按鍵 您就可以切換放大倍率, 照明模式或相襯模式。

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    高產能 8寸晶元檢查及缺陷分析系統  

徠卡金相顯微鏡 DM8000M為您帶來的優勢

視野擴大四倍以上 宏觀放大功能 使您可以比傳統掃描物鏡多看四倍以上的視野。	極限分辨率 全新的傾斜紫外模式 (OUV) 在紫外光基礎上結合了傾斜光設計理念，確保您可以從任何角度都得到可見物理光學的極限分辨率。
人機工程學設計 非常適合 長時間在顯微鏡上工作, 直觀操作適應任何程度的使用者。	LED 照明 內置一體化的 LED照明 達到了*的空氣環流. 長壽命和低能耗的LED特性同樣為用戶節省了大量成本。