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安捷倫ICP-MS電感耦合等離子體質譜儀7500/7700

簡介：

安捷倫7500質譜ICP-MS是一種新型的無機元素和同位素分析技術，可快速同時檢測周期表上幾乎元素。ICP-MS技術在分析能力上，傳統的無機分析技術如電感耦合等離子體光譜技術（ICPAES）、石墨爐原子吸收（GFAAS）和汞冷原子吸收技術（CVAAS）的總和。

Agilent 7700 系列ICP-MS儀器的新面孔–是世界上的商品化ICP-MS。作為的安捷倫7500 系列ICP-MS的繼承者：分析速度更快、操作更簡便、靈敏度更高、背景噪音更低、消干擾效果、應用面更廣、維護更方便。

安捷倫ICP-MS電感耦合等離子體質譜儀7500/7700

優勢：

尺寸小的ICP-MS

靈敏度高的碰撞池-第三代八極桿碰撞/反應池系統(ORS3)

數字控制式射頻匹配的RF發生器

純 氦（He） 氣碰撞池：只用He氣就可以消除干擾

耐高鹽的ICP-MS: HMI技術（TDS>3%）

ICP離子源技術：唯yi的數字控制式諧頻ICP發生器

溶劑進樣不熄火

分析速度快：ISIS-DS技術

容易維護和清洗

強的色譜聯機功能：一體化

功能多強的軟件：MassHunter系統，實現實時QA/QC偏移標示，自動化控制等

參數信息：

1. 靈敏度：

低質量數 Li(7): 3 50 Mcps/ppm；

中質量數 Y(89): 3 160 Mcps/ppm（7700x)； 240 Mcps/ppm(7700s) ；

高質量數 Tl(205): 3 80 Mcps/ppm(7700x)； 120 Mcps/ppm(7700s)；

根據用戶需求，可提供靈敏度功能

2. 檢測限：

低質量數 Be(9): ￡ 0.5 ppt；

中質量數 In(115): ￡ 0.1 ppt

高質量數 Bi(209): ￡ 0.1 ppt

3. 氧化物干擾: CeO+/Ce+:￡ 1.5 %(7700x)；  3.0 %(7700s)；

4. 雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:￡ 3.0 %

5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) ￡0.1%

6. 質譜范圍：2 - 260 amu；

7 豐度靈敏度 ：

低質量端: ￡ 5 x 10-7

高質量端: ￡ 1 x 10-7