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詳細摘要：徠卡DM12000M半導體檢測金相顯微鏡，可實現大型12寸晶圓觀察，常規金相材料、電子元器件、LCD、粉塵顆粒等樣品觀察分析。可配接Leica攝像頭，熱臺等配件。

詳細摘要：Leica徠卡DM8000M臺式進口金相顯微鏡，可做8寸晶圓觀察，適合常規電子元器件、金屬、陶瓷、高分子材料等樣品分析。模塊化設計可實現多種觀察方式。

詳細摘要：徠卡DM2700M科研級正置手動式金相顯微鏡，可做常規金屬、陶瓷、高分子材料等樣品的觀察分析.機身配備透反射LED光源,恒定色溫，提供無限接近真實顏色還原。

詳細摘要：Leica徠卡DM750M正置金相顯微鏡，可選雙目和三目，可實現透反射金相觀察，滿足各種材料樣品常規分析。

詳細摘要：德國進口徠卡研究級正置偏光顯微鏡DM4P，適用于巖石薄片、玻璃、陶瓷、塑料、高分子材料等樣品的偏光特性觀察分析。

詳細摘要：LEICA德國進口正置偏光顯微鏡萊卡DM2700P，可做偏光、暗場、干涉等觀察.可配接高溫熱臺進行巖相分析,模塊化設計,可實現透射和透反射配置.適用于巖片、玻璃、陶瓷、塑料、高分子材料等樣品的偏光特性常規觀察分析。

詳細摘要：德國進口徠卡DM750P正置電腦型偏光顯微鏡，可配接萊卡專業軟件成為煤巖分析系統。適用于巖片、高分子材料等樣品觀察。

詳細摘要：Leica徠卡DM6M高級全自動數字金相顯微鏡是正置模塊化設計，可實現透反射觀察.可配接攝像頭、數碼相機等裝置擴展數碼顯微鏡.適合金屬、高分子材料、電子元器件、粉塵等樣品觀察分析。

詳細摘要：德國進口徠卡高倍正置金相顯微鏡DM4M，可配接自動掃描臺進行多視場非金屬夾雜物和顆粒度分析、汽車清潔度分析系統.具備明場、暗場、偏光、干涉等多種觀察方式。

詳細摘要：Leica徠卡DCM8光學表面測量視頻分析顯微鏡，結合共聚焦和白光干涉兩大功能，可視頻顯示材料表面3D狀況，并通過攝影后進行分析。

詳細摘要：Leica徠卡Z6 APO/Z16 APO體視顯微鏡，可作為工具顯微鏡對零件、產品進行質量甄別，可連續變倍和分檔變倍。有多種顯微鏡支架和照明方式供用戶選擇。

詳細摘要：徠卡實驗室宏觀體視顯微鏡S8APO常應用于實驗室或者寶石觀察，配備復消色差物鏡。標配放大倍數極限大倍數是80倍，連續可調，可外接顯微鏡相機成像。

詳細摘要：徠卡S6/S6E/S6D雙目/三目體視顯微鏡S6系列，可用于一般樣品鑒定及劃痕檢測，標準大放大倍數40倍，多種光源照明方式可選擇。

詳細摘要：Leica徠卡S4E立體體視顯微鏡可用于工廠檢測，焊接輔助等。標準放大倍數高30倍，可選多種顯微鏡支架和光源，實現透反射觀察。

詳細摘要：德國進口Leica徠卡M10F熒光體視顯微鏡是自動模塊化顯微鏡，配備落射熒光裝置，可做大型樣品宏觀觀察及微觀分析，標準放大倍數高80倍，可通過多種支架和光源進行擴展。

詳細摘要：徠卡M205系列體視顯微鏡M205A/M205C/M205FA，整機自動控制，可外接描繪儀，科研攝像機等裝置。帶編碼自動識別放大倍數做測量及加標尺，有多種照明附件和物鏡可選組合。

詳細摘要：Leica徠卡M165FC科研級熒光體視顯微鏡，配備反射熒光裝置，可配電動部件實現電動調焦變倍等操作。配備1倍物鏡是放大倍數7.3-120倍，滿足不同用戶使用要求。

詳細摘要：Leica徠卡M165C研究級體視電腦顯微鏡，可外接繪圖儀，1倍物鏡下放大倍數7.3-120倍，可外接攝像稱為電腦型顯微鏡。多種物鏡和光源組合可選擇。

詳細摘要：Leica徠卡研究級體視顯微鏡M125的變倍比高達12.5:1，連續變倍設計。可搭配不同底座實現明視場觀察和暗場觀察等功能。設計可連續變倍和分檔變倍。

詳細摘要：Leica徠卡M80科研級實體體視顯微鏡可做印章檢測、物料鑒別等應用。可以分檔變倍或連續變倍，1倍物鏡下高放大倍數60倍。滿足客戶多數應用要求。