顆粒外觀缺陷檢測掃描設備介紹

掃描分析異色料子，包括黑粒、雜色粒等異色粒子

掃描分析異形粒子，包括大小粒、蛇皮粒等等異形粒子

掃描分析異色異形粒子，MP-C1和MP-V1功能結合體設備。

顆粒外觀缺陷檢測儀MP-C1/V1（彩色攝影機）是Mcroptik公司專為塑料聚合物工業開發的，也是為了滿足原材料供應商對產品質量的要求提高MP-C1異色分析設定20微米到200微米之間是攝影機像素的標準配置。它每小時可以處理出2公斤甚至到60公斤重的透明和不透明的粒子，當然是取決于被檢產品顆粒的規格和材料  MP-C1/V1這一款的粒子掃描系統，我們把電腦與攝影機系統的連接線長度預留在3米。然后設定以分辨率在20微米的標準開始，在測試50微米，然后100微米到最后200微米等10個規格（客戶也可以自定義）。根據測量結果我們得到以下一組數據，并作為技術參數。

顆粒外觀缺陷檢測MP-V1異形分析設定30微米到1000微米之間是攝影機像素的標準配置。它每小時可以處理2公斤甚至到60公斤重的透明和不透明的粒子，當然是取決于被檢產品顆粒的規格和材料。MP-V1這一款的粒子掃描系統，我們把電腦與攝影機系統的連接線長度預留在3米。然后設定以分辨率在30微米的標準開始，最后10000微米等10個規格（客戶也可以自定義）根據測量結果我們得到以下一組數據，并作為技術參數。

顆粒外觀缺陷檢測技術指標、芯片彩色攝影機設定攝影機的像素：1936x1216像素，像素尺寸Pixel size：4.5um。
（1）20um起
USB 3CMOS
161f/s
18W
LED強光源（含測試臺背景輔助光源）
:19寸長
500x600x500mm（長、寬、高）
/功率：約在230V/110V:380VA
45公斤