頂空分析儀X-325i是基于光學感應的熒光衰減法檢測原理，頂空分析過程不對樣品進行采樣，對頂空樣氣體積及頂空條件（如負壓）無要求，小樣氣量僅需0.1ml即可完成精準分析。有別于傳統方法諸如電化學、氧化鋯等對樣氣量、頂空條件（負壓）有要求的采樣分析方式。

頂空分析儀使用熒光法特質的熒光貼片OXYDOT，可以實現無損檢測分析，應用于長期的包裝穩定性研究。也可應用于溶液配液罐頂空殘氧分析。

熒光檢測原理：氧分子和熒光貼片中的熒光物質接觸后，使得熒光物質發射的熒光信號減弱，信號衰減程度和氧含量成正比。基于光學感應原理，不取樣分析，不受頂空條件影響。

X-325I是一款熒光衰減法氧氣/溶氧多功能分析儀，熒光感應原理，無取樣分析方式。對容器頂空條件無要求，適用于目前制藥行業所有的包裝形式，符合ASTM F2714-08。

特征：

● 零樣氣消耗，只需要極少的樣氣量，少0.1ml

● 可實現對頂空氧及液體溶解氧同時分析檢測

● 自動生成數據隨時間變化曲線

● 內置溫度和壓力補償

● 支持無損檢測分析，實現留樣分析

● 傳感器免維護，無需更換

● 設備零維護，*

● 數據自動無限儲存，PDF導出

X-325I是一款熒光衰減法氧氣/溶氧多功能分析儀，熒光感應原理，無取樣分析方式。對容器頂空條件無要求，適用于目前制藥行業所有的包裝形式，符合ASTM F2714-08。