昕銳X1200Pro測距儀

昕銳X1200Pro測距儀技術參數

激光測距儀測量法具有以下優點。

　　①基于向物體發射能量，不存在盲區(Missing part)。

　　②對物體表面性質(顏色、質地、紋理)不加限制。

　　③可直接進行測量。

　　④無需取得圖像及對圖像作分析處理。

969年，Hildebrand和Haines從相干光學的觀點出發，提出了一種采用雙波長光源的全信息等高技術。它可以在物體上生成等高線，等高線的分辨率取決于光源波長，且不能任意變化。Hildebrand和Haines提出的另一種方法是由兩個具有不同波長的點光源產生的干涉條紋在物體上生成等高線，與種方法相比，第二種方法產生的等高線圖的分辨率可以從波長級變化到忽米級。對于雙光源系統來說，其主要問題是，若物體上有一些“漩渦花樣"，特定區域將不能清晰地描繪出全息等高圖。相關測量法對測量環境要求*，一般只能在實驗室條件下測量，且不易于實現自動化。