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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子/電池 |
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測量頻率DC，4 Hz?8 MHz的LCR測試儀
測量頻率DC，4Hz~8MHz 測量時間：最快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保證，可測量低阻 可內部發生DC偏壓測量
產品簡介
詳細介紹
日置LCR測試儀IM3536
測量頻率DC，4 Hz?8 MHz的LCR測試儀
測量頻率DC，4Hz~8MHz 測量時間：最快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保證，可測量低阻 可內部發生DC偏壓測量
概要
測量頻率DC，4Hz~8MHz
測量時間：最快1ms
基本精度：±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進行低阻測量
可內部發生DC偏壓測量
從研發到生產線活躍在各種領域中
基本參數
測量模式
LCR（單一條件下測量），連續測量（保存條件下連續測量）
測量參數
Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
測量量程
100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數由Z規定）
顯示范圍
Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度
Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ）
測量頻率：4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進)
測量信號電平
[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (最大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (最大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (最大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (最大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (最大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (最大1 V)
[直流電阻測量]: 1 V固定
DC偏壓
發生范圍：DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時0 ~1 V)
輸出阻抗
通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
顯示
彩色TFT5.7英寸，觸摸屏
功能
比較器、BIN測量（2個項目10種分類），觸發功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能
接口
EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出
電源
AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
體積及重量：330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件：電源線×1,使用說明書×1,CD-R（通訊說明書，LCR應用光盤）×1
日置LCR測試儀IM3536