紫外可見區 紫外可見區沿用了經典型號UH4150，測光范圍為８Abs。 另外，UH4150AD+采用了靈敏度更高的光電倍增管，可以依據樣品的光學特性靈活選擇檢測器的切換波長。 憑借紫外可見近紅外區寬的測光范圍，非常適合評價近紅外型光學元件，如自動駕駛等的傳感設備LiDAR等光學元件及智能手機攝像頭的濾光片、人臉識別濾光片等。 沿用備受好評的經典型號UH4150的光學系統 在測定固體樣品的正反射時，入射角很重要。對于聚集光束，入射角會隨焦距的變化而變化，從而造成導電多層膜和棱鏡等光學薄膜預測值和實際值產生差異。 對于平行光束，所有樣品的入射角都是近似于平行的，因此可以高精度測定正反射。另外，平行光束對于擴散性評價（霧度）、鏡頭透過率測定也是有效的。

本次開發的UH4150AD+（Advanced Spec Plus）是在延續了作為光學元件的光譜特性檢測設備UH4150 系列的基礎上，提升了其在近紅外區域光譜特性測量性能，成為在先端行業很流行的測量光學元件的理想設備。

具有紫外可見區8Abs、近紅外區7Abs的測光范圍

l  紫外可見區

紫外可見區UH4150AD+采用了靈敏度更高的光電倍增管，測光范圍為８Abs。并且可以依據樣品的光學特性靈活選擇檢測器的切換波長。

l  近紅外區

在近紅外區域安裝了高靈敏度的 InGaAs 探測器。 直射光探測器通過安裝集成放大器的探測器實現低噪聲，并支持近紅外區域7Abs的測光范圍。

沿用備受好評的UH4150光學系統

在測定固體樣品的正反射時，入射角很重要。對于聚集光束，入射角會隨焦距的變化而變化，從而造成導電多層膜和棱鏡等光學薄膜預測值和實際值產生差異。

對于平行光束，所有樣品的入射角都是近似于平行的，因此可以高精度測定正反射。另外，平行光束也可用于擴散性評價（霧度）、鏡頭透過率測定。