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DXF-8小型探傷儀
DFX-8 超小型探傷/測(cè)厚多用途檢測(cè)儀檢測(cè)范圍
0～7.1mm直至0～30480mm(鋼)，連續(xù)可調(diào)
DFX-8 超小型探傷/測(cè)厚多用途檢測(cè)儀檢測(cè)范圍
0～7.1mm直至0～30480mm(鋼)，連續(xù)可調(diào)
詳細(xì)介紹
DXF-8小型探傷儀
DFX-8 超小型探傷/測(cè)厚多用途檢測(cè)儀檢測(cè)范圍
0～7.1mm直至0～30480mm(鋼)，連續(xù)可調(diào)
內(nèi)置DAC/AWS/TCG/DGS曲線
高可視性AMOLED彩色顯示屏
脈沖重復(fù)頻率：8—2KHz
屏幕刷新率：60
觸發(fā)方式：過(guò)零點(diǎn)、起始沿或者峰值
自動(dòng)探頭識(shí)別、探頭調(diào)零和溫度補(bǔ)償
多種測(cè)量模式適應(yīng)各種各樣的檢測(cè)場(chǎng)合
大數(shù)據(jù)量存儲(chǔ)能力
鋰電池能提供長(zhǎng)達(dá)18小時(shí)的工作時(shí)間（用6節(jié)AA號(hào)電池備用可以提供長(zhǎng)達(dá)12小時(shí)的工作時(shí)間）
Windows界面計(jì)算機(jī)通訊軟件
DFX-8
外形尺寸
63.5x165x31.5mm
重量
0.4kg（包括電池） 全金屬外殼
顯示屏尺寸
亮度可調(diào)彩色AMOLED顯示
分辨率
320X240像素
顯示面積
43.2X57.6mm
探傷狀態(tài)
全波、正/負(fù)半波、RF波
測(cè)厚儀狀態(tài)
數(shù)字式、正/負(fù)半波、RF波或者B掃描
探傷狀態(tài)
2個(gè)單獨(dú)的測(cè)量門
測(cè)厚儀狀態(tài)
3個(gè)測(cè)量門
工作溫度
-10～60℃
工作環(huán)境
符合IP65標(biāo)準(zhǔn)
DFX-8測(cè)厚儀性能
自動(dòng)校準(zhǔn)
縱波（直探頭）和橫波（斜探頭）都可自動(dòng)校準(zhǔn)
探頭類型
單晶接觸式探頭、雙晶探頭、延遲塊探頭、斜探頭
測(cè)量單位
公制 (mm)、英制(in)、時(shí)間(μs )
檢測(cè)范圍
0～7.1mm直至0～30480mm(鋼)，連續(xù)可調(diào)
聲速
256～16000m/s，連續(xù)可調(diào)
探頭延遲
0～999.999μs，連續(xù)可調(diào)
脈沖發(fā)生器
200V可變方波脈沖發(fā)生器
脈沖寬度
40— 400ns
脈沖重復(fù)頻率
8～333Hz（8，16,，32，66,125,250,333Hz可選）
增益
0～110dB，可以隨時(shí)進(jìn)行增益調(diào)節(jié)（手動(dòng)或者自動(dòng)增益控制）
阻尼
50/75/100/300/600/1500Ω，六檔可選
頻率范圍
頻帶：1.8MHz～19MHz(-3dB)
3個(gè)窄頻帶，頻率分別為
2MHz、5MHz和10MHz（DF-7+適用）
水平線性
±0.4%全屏幕寬度(FSW)
垂直線性
±1%全屏幕高度(FSH)
放大器精度
±1dB
延遲
0～25375mm（鋼）
DFX-8探傷儀性能
斜探頭模式
聲程、水平距離、深度三角顯示和曲面修正
DAC曲線
可選取8個(gè)點(diǎn)制作數(shù)字DAC曲線
設(shè)有參考曲線
-2dB、-6dB、-10dB曲線(-6/-12), （-6/-14), (-2/-6/-10)dB
幅度顯示方式
%DAC或者%FSH
AWS
為儀器內(nèi)置軟件，用于按照 AWS D1.1結(jié)構(gòu)焊接標(biāo)準(zhǔn)對(duì)顯示的缺陷作評(píng)定
AVG/DGS
按探頭數(shù)據(jù)自動(dòng)計(jì)算缺陷大小，可存儲(chǔ)64種探頭數(shù)據(jù)
TCG曲線
時(shí)間校正增益，50dB的動(dòng)態(tài)范圍，20dB/ms，可選擇8個(gè)輸入點(diǎn)
檢測(cè)模式
脈沖回波
Auto-cal功能
對(duì)兩個(gè)回波自動(dòng)標(biāo)定
顯示凍結(jié)
用于捕獲鎖定當(dāng)前的掃描圖像
峰值記憶
用于捕獲鎖定動(dòng)態(tài)回波的最大值
存儲(chǔ)能力
界面波-底波(P-E)方式
0.63mm－3048cm
多層測(cè)量(PECT)方式
0.63mm－3048cm（基體） 0.01－2.54mm（表面涂層）
帶自動(dòng)溫度補(bǔ)償?shù)慕缑娌?底波(PETP)方式
0.63mm－3048cm
穿透涂層測(cè)量(E-E)模式
1.27-—102mm（因涂層的不同會(huì)有所變化）
僅測(cè)量涂層(CT)模式
0.0127——2.54mm（因涂層的不同會(huì)有所變化）