新一代Genius XRF手持式X射線鍍層測厚儀是專門針對在現場，野外進行X熒光分析的應用而設計，具有體積小，重量輕，普通人可手持測量的特點；產品超小、超輕、超美、超安全、超方便、超長待機時間、超防水、超準、超快等特點，并在小型X射線儀上引入了數字多道技術，使儀器檢出限更好，穩定性更高，適用面更廣。

產品包括有害元素分析儀，合金鍍層分析儀，礦石分析儀，土壤重金屬分析儀，XRF等一系列型號，可充分滿足從原料檢測，生產過程控制到成品檢驗中各種元素成分的現場在線分析，金屬材料的可靠性鑒別和合號快速識別，土壤重金屬現場檢測，各類地質礦樣的野外原位多元素分析等市場需求。

該系列產品通過嚴格檢測和驗證，各項指標均符合相關技術要求，技術達水平。產品已開始批量銷售于國內外市場，受到客戶的好評，打破國外廠家的壟斷。

性能優勢

性能堪比臺式機
小功率端窗一體化微型光管、大面積鈹窗SDD硅漂移探測器（世界上的探測器）及微型數字信號多道處理器三大核心技術的引入，大幅降低測試時間、提高檢測精度、減少測試誤差，使手持式儀器具有與臺式相近的測試性能。
小巧便攜、操作快捷
體積很小，便攜、方便野外工作。隨時隨地，隨心所欲的現場分析和原位分析。
無損檢測
整個檢測過程被測樣品無任何損壞
快速檢測
儀器既可手持1-2秒對樣品進行快速測試，也能使用座式對樣品進行較長時間的精細測試，10秒即可進行接近實驗室精度的測量。
新增輕元素檢測功能
較三代手持式X熒光分析儀（手持式X射線鍍層測厚儀），增加了可充氣系統，可采用常壓充氦氣系統對設備充氣。從而實現檢測從Mg開始的元素，大大擴展測試元素范圍，滿足特定客戶輕元素檢測需求。
直接測定無需制樣
野外分析無需制備樣品，可直接在待測物表面進行測定，可分析任何樣品類型，包括電子電器產品、鍍層厚度、合金樣品、地質礦產、土壤、巖石、泥土、殘渣、固體小顆粒、液體沉積物等。
高清攝像頭檢測更加


性能指標

分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測量
同時檢測元素：數幾十種元素可同時分析
處理器和內存：CPU：667MHz,內存：256M，擴展存儲支持32G，標配2G，可以海量存儲數據。
含量范圍：ppm～99.99%
檢測時間：3-30秒
GPS、WIFI：內置系統
電池使用時間：可充電鋰電池，電池電量7800mAH,可持續工作8小時；配有寬電壓110V-220V通用適配器，可交流供電使用。
檢測對象：固體、液體、粉末
探測器：25mm2 0.3mil，SDD探測器
探測器分辨率：可達139eV
激發源：50KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源
準直器和濾光片：直徑4.0和2.0mm準直器，6種濾光片組合自動切換，12種組合，世界上多的組合方式，可滿足各種類樣品的測試
檢測對象：固體、液體、粉末
 

手持鍍層測厚儀測樣圖片