天瑞儀器，X熒光鍍層測厚儀 

 技術參數

重量：90 kg
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
工作穩定性高
溫度適應范圍為15℃30℃
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層 
一次可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

 天瑞儀器，X熒光鍍層測厚儀 性能優勢

可靠性高
由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求
：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態，設定儀器參數，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
快速
1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
無損
測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀
實時譜圖，可直觀顯示產品測試點
簡易
對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。
性價比高

相比其他類類儀器，x熒光鍍層測厚儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。