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鍍層厚度分析儀 分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定多5層、15種元素。數據統計功能允許用戶自定義多媒體分析格式,以滿足您特定的分析格式要求;如在分析中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、值、小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
鍍層厚度分析儀 產品特點:
THICK800A系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點小可達0.025 x 0.051毫米。
THICK800A系列采用開槽式樣品室,它可提供三種規格的樣品臺供用戶選用,分別為:
標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
加深臺:可調高度型標準樣品臺,XY軸手動控制、Z軸自動控制。
程控樣品臺:XYZ軸自動控制。
產品規格:
No. 主要規格 規格描述
1 激發系統 垂直從上下照式光學系統
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標準靶材: W
功率:50W (4-50kV,0-1.0mA)-標準
功率可編程控制
裝備有安全防射線光閘
2 濾光片程控交換系統 根據靶材,標準裝備有相應的一次濾光片系統
二次濾光片:3個位置程控交換,Co、Ni、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
位置傳感器保護裝置,防止樣品碰創探測器窗口
3 準直器程控交換系統 多可同時裝配6種規格的準直器,程序交換控制
多種規格尺寸準直器任選:
-圓形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16 mil等
4 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時,小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
5 X射線探測系統 封氣正比計數器
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6 樣品室 THICK800A
-樣品室結構 開槽式樣品室
-樣品臺尺寸 長寬610mm x 610mm
-樣品高度 標準臺33mm 加深臺160mm 程控臺33mm
-XY軸程控移動范圍 標準:152.4 x 177.8mm
-Z軸程控移動高度 43.18mm
-XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
-樣品觀察系統 高分辨、彩色、實時CCD觀察系統,標準放大倍數為30倍。
明暗度可調,具有刻度的十字標尺
激光輔助聚焦功能
7 計算機系統配置 聯想計算機:2.8G奔騰IV處理器,1G內存,1.44M軟驅,250G硬盤,CD-ROM,鼠標,鍵盤,17寸液顯,或更高配置。
8 分析應用軟件 操作系統:Windows7.0中文平臺
分析軟件包:SmartLink FP軟件包
-測厚范圍 可測定厚度范圍:取決于您的具體應用。請告訴牛津儀器您的具體應用,我們將列表可測定的厚度范圍
-基本分析功能 無標樣檢量線測厚,可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
樣品種類:鍍層、涂層
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