天瑞儀器X射線鍍層測厚儀Thick800A 

 性能優勢
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
快速、無損的分析
成份分析多可達25種元素
同時可多分析5層
基于基本參數法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計 

 天瑞儀器X射線鍍層測厚儀Thick800A 技術指標
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層 
一次可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
工作穩定性高
工作環境：
度適應范圍為15℃30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg