餐具鍍層測(cè)厚儀Thick800A  

 主要特點(diǎn)

如：勺子、叉子、刀具、鏟子等餐具鍍層厚度測(cè)試，測(cè)量鍍膜厚度基本上需符合下述的要求： 
1.不破壞的測(cè)量下具高精密度。 
2.極小的測(cè)定面積。 
3.中間鍍膜及素材的成份對(duì)測(cè)量值不產(chǎn)生影響。 
4.同時(shí)且互不干擾的測(cè)量上層及中間鍍膜 。 
5.同時(shí)測(cè)量雙合金的鍍膜厚及成份。 
而X-射線熒光法就可在不受素材及不同中間膜的影響下得到高精密度的測(cè)量。 
6.無(wú)損、、快速測(cè)量各種電鍍層的厚度. 
7.電鍍層可以是單層/雙層/三層 
9.鍍金/鍍銀/鍍鎳/鍍銅等都可以測(cè)量 
10.有電鍍液成份分析以及金屬成份分析等軟件 
11.易操作/易維護(hù) 
12.準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) 多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制 

餐具鍍層測(cè)厚儀Thick800A  測(cè)試范圍

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線性回收程序

溫度適應(yīng)范圍為15℃30℃。

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm