目錄:廈門超新芯科技有限公司>>樣品臺>>Gravity Series In-Situ Holders>> 透射電鏡雙傾探針電學原位系統
| 適用電鏡 | Thermo?Fisher/FEI,?JEOL,?Hitachi |
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納米探針操縱系統
1．高精度壓電陶瓷驅動，納米級別精度數字化精確定位。
2．可對單個納米結構進行操縱和電學測量。
優異的電學性能
特殊設計保證電學測量的低噪音和精確性，電流測量精度可達皮安級。
智能化軟件
1．人機分離，軟件遠程調節電學條件，程序自動化控制傾轉角度。
2．全程自動記錄實驗細節數據，便于總結與回顧。
| 類別 | 項目 | 參數 |
| 基本參數 | 桿體材質 | 高強度鈦合金 |
| 控制方式 | 高精度壓電陶瓷 | |
| 傾轉角 | α≥±20°，β≥±20°（實際范圍取決于透射電鏡和極靴型號） | |
| 適用電鏡 | Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi | |
| 適用極靴 | ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP | |
| (HR)TEM/STEM | 支持 | |
| (HR)EDS/EELS/SAED | 支持 |
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