砝碼屬于計量技術領域，一種能夠對待檢砝碼進行檢定的砝碼檢定方法。

目前，根據法計量組織BIPM制定的建議OMLRlll《Weights》和我國制定的JJG99-2006《砝碼檢定規程》的相關規定，砝碼的檢定方法有一對一比較法和組合比較法，其中，一對一比較法的檢定流程相對簡單、計算也相對簡單所以被廣泛應用，但是，這樣的方法不能滿足E1、&等級砝碼的檢定。所以，必須采用組合比較法進行砝碼檢定。

組合比較法只需采用一個標準砝碼就可完成對一套待檢砝碼的檢定，但是，這種方法在檢定流程中，需要將多個砝碼作為一組砝碼同時進行稱量，然而這組砝碼在稱量時被平鋪在比較儀的秤盤上，由于這樣多個砝碼距離秤盤中心的位置不一，所以會產生偏載誤差，這樣會影響測量結果的精度，從而導致檢定結構不夠精確。

尤其是對于&等級毫克組砝碼，根據JJG99-2006《砝碼檢定規程》的規定只能采用組合比較法進行檢定，在這種情況下，由于砝碼本身質量就非常小，偏載誤差的存在對檢定結果的影響會更加嚴重。

是為了解決上述課題而進行的，目的在于提供一種能夠對待檢砝碼組中多個待檢破碼更加精確地來進行檢定的破碼檢定方法。

砝碼檢定方法，按照組合比較法測量模式，對待檢砝碼組中多個待檢砝碼，使用標準砝碼以及與待檢砝碼組中標稱值小的待檢砝碼相對應的參檢砝碼來進行檢定，其特征在于，包括以下步驟：砝碼盤采用步驟，采用用于盛放標準砝碼的標準石去碼盤、用于盛放參檢破碼的參檢破碼盤以及用于對應地盛放各個待檢破碼的多個待檢砝碼盤；砝碼盤質量差值獲取步驟，首先采用組合比較法測量模式中的質量差值獲取方式對標準砝碼盤、參檢砝碼盤和各個待檢砝碼盤的質量進行比較檢測，得到標準砝碼盤、參檢砝碼盤和所有的待檢砝碼盤之間的一組砝碼盤質量差值；砝碼盤質量修正值獲取步驟，采用組合比較法測量模式中的質量修正值計算方式，基于一組砝碼盤質量差值，得到分別與參檢砝碼盤和各個待檢砝碼盤的相對應的一組砝碼盤質量修正值；組件設定步驟，將標準砝碼和標準砝碼盤設定為標準組件、將參檢砝碼和參檢砝碼盤設定為參檢組件以及將各個待檢砝碼和對應的待檢砝碼盤分別設定為多個待檢組件；組件質量差值獲取步驟，采用組合比較法測量模式中的質量差值獲取方式對標準組件、參檢組件和各個待檢組件的質量進行比較檢測，得到標準組件、參檢組件和所有的待檢組件之間的一組組件質量差值；以及計算檢定步驟，根據一組砝碼盤質量修正值和一組組件質量差值，基于計算規則計算得到各個待檢砝碼的砝碼質量修正值，從而得到與各個待檢砝碼相對應的多個質量檢定結果，其中，在砝碼盤質量差值獲取步驟中，當需要把至少兩個砝碼盤放在一起進行比較檢測時，砝碼盤是被層層疊加放置在比較儀的秤盤上，在組件差值獲取步驟中，當需要把至少兩個組件放在一起進行比較檢測時，組件是被層層疊加放置在秤盤上，在每個組件中的砝碼相對于砝碼盤的放置位置相同。

砝碼檢定方法中，還可以具有這樣的特征：其中，比較儀采用多層結構的支撐架來疊加放置至少兩個砝碼盤，從而使得砝碼盤的中心處于秤盤的中軸線上，比較儀中的支撐架還用來疊加放置至少兩個組件，從而使得組件中砝碼盤的中心處于秤盤的中軸線上。砝碼檢定方法中，還具有這樣的特征：其中，在判定步驟中，檢定結果是待檢砝碼是否合格。

砝碼檢定方法中，還可以具有這樣的特征：其中，待檢砝碼組是一套毫克級別的砝碼。

砝碼檢定方法中，還可以具有這樣的特征：其中，待檢砝碼組含有標稱值分別為：500mg、200mg、200mg、100mg、50mg、20mg、20mg、10mg、5mg、2mg、2mg、Img的十二個暈克破碼，標準破碼是標稱值為1000mg的破碼，參檢破碼是標稱值為Img的破碼。[0010]在本發明提供的砝碼檢定方法中，還可以具有這樣的特征：其中，在計算檢定步驟中，預定計算規則包含折算質量值計算公式和修正值計算公式，折算質量值計算公式為：

一種砝碼檢定方法，按照組合比較法測量模式，對待檢砝碼組中多個待檢砝碼，使用標準砝碼以及與所述待檢砝碼組中標稱值小的所述待檢砝碼相對應的參檢砝碼來進行檢定，其特征在于，包括以下步驟：砝碼盤采用步驟，采用用于盛放所述標準砝碼的標準砝碼盤、用于盛放所述參檢砝碼的參檢砝碼盤以及用于一一對應地盛放各個所述待檢砝碼的多個待檢砝碼盤；砝碼盤質量差值獲取步驟，首先采用所述組合比較法測量模式中的質量差值獲取方式對所述標準砝碼盤、所述參檢砝碼盤和各個所述待檢砝碼盤的質量進行比較檢測，得到所述標準砝碼盤、所述參檢砝碼盤和所有的所述待檢砝碼盤之間的一組砝碼盤質量差值；砝碼盤質量修正值獲取步驟，采用所述組合比較法測量模式中的質量修正值計算方式，基于所述一組砝碼盤質量差值，得到分別與所述參檢砝碼盤和各個所述待檢砝碼盤的相對應的一組砝碼盤質量修正值；組件設定步驟，將所述標準砝碼和所述標準砝碼盤設定為標準組件、將所述參檢砝碼和所述參檢砝碼盤設定為參檢組件以及將各個所述待檢砝碼和對應的所述待檢砝碼盤分別設定為多個待檢組件；組件質量差值獲取步驟，采用所述組合比較法測量模式中的所述質量差值獲取方式對所述標準組件、所述參檢組件和各個所述待檢組件的質量進行比較檢測，得到所述標準組件、所述參檢組件和所有的所述待檢組件之間的一組組件質量差值；以及計算檢定步驟，根據所述一組砝碼盤質量修正值和所述一組組件質量差值，基于計算規則計算得到各個所述待檢砝碼的砝碼質量修正值，從而得到與各個所述待檢砝碼相對應的多個質量檢定結果，其中，在所述砝碼盤質量差值獲取步驟中，當需要把至少兩個砝碼盤放在一起進行所述比較檢測時，所述砝碼盤是被層層疊加放置在比較儀