目錄:聯(lián)合光科技（北京）有限公司>>測(cè)量?jī)x器>>光譜分析>> 780002太赫茲三維層析成像系統(tǒng)
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更新時(shí)間：2024-04-03 10:13:22瀏覽次數(shù)：120評(píng)價(jià)
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三維層析成像技術(shù)是目前國內(nèi)外光學(xué)領(lǐng)域一個(gè)重要的研究方向， 已嵌入到了現(xiàn)代工業(yè)與文化創(chuàng)意產(chǎn)業(yè)的整個(gè)流程，他是獲取物體表面形態(tài)特征的重要手段，也是真實(shí)物體三維數(shù)字化的基礎(chǔ)。太赫茲三維層析成像技術(shù)是較為成熟的三維物體成像與測(cè)量技術(shù)，是一種太赫茲波譜方式的寬場(chǎng)成像技術(shù)，經(jīng)過特定算法的解算和重構(gòu)可以實(shí)現(xiàn)物體三維切片成像，并且能夠精確解析樣品表面及內(nèi)部復(fù)雜結(jié)構(gòu)。
本公司自主研制的780002太赫茲三維層析成像系統(tǒng)是實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品化的飛行時(shí)間(FOT)層析成像產(chǎn)品， 可以實(shí)現(xiàn)60像素／秒的成像速度，成像景深可達(dá)9mm以上，縱向分辨率達(dá)到±2um;同時(shí)，所獲取圖像每一個(gè)像素點(diǎn)都包含了完整的太赫茲波形，因此兼具光譜測(cè)量的功能，光譜寬度可達(dá)4THz, 真正實(shí)現(xiàn)了圖譜合一。
全光纖系統(tǒng)，更加小巧，便攜式設(shè)計(jì)；
光譜分辨率低至2GHz；
超過70dB動(dòng)態(tài)范圍；
支持透射和反射式光譜測(cè)量模式，適用大多數(shù)樣品測(cè)試需求；
匹配專用樣品倉單元，實(shí)現(xiàn)干燥環(huán)境下的樣品測(cè)量，排除水蒸氣的干擾；
更加人性化、智能化和靈活功能擴(kuò)展的上位機(jī)軟件系統(tǒng)。
厚度檢測(cè)
層析成像
適用于非金屬無損檢測(cè)場(chǎng)景
| 頻帶寬度 | 0.1-3THz |
| 頻譜分辨率 | 8GHz |
| 動(dòng)態(tài)范圍 | >70dB |
| THz脈沖掃描速度 | 25-60Hz |
| 檢測(cè)厚度 | 9mm |
| 最小檢測(cè)厚度 | 30μm |
| 厚度檢測(cè)誤差 | 2μm |
| 橫向成像分辨率 | 1mm |
| 成像視場(chǎng) | 100*100mm |
| 工作模式 | 反射/透射 |
| 成像速度 | Max. 60pixel/s |
| 光路傳輸類型 | 全光纖傳輸 |
| 工作電源 | 24V/DC |
| 對(duì)外接口 | USB/RS232 |
| 設(shè)備尺寸 | 480*450*280mm |
| 設(shè)備質(zhì)量 | 12kg |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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