目錄:聯合光科技（北京）有限公司>>測量儀器>>光學器件性能檢測儀器>> 750179高精度低相位干涉儀
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
測量拋光光學表面的面型和透射波前
自動光強調節與FlexFlatTM傳輸平臺相結合，減少了操作人員在測量時的干預
無需反復測量，無需掃描測試位置
與其他基于激光的Fizeau干涉儀不同，OptoFlat集成了長壽命的LED光源
內置專有的PurePhaseTM方法提升了在不穩定的振動環境中的干涉相位測量
校準過的低畸變1X和4X光學放大倍率的比例尺準確的測試面積尺寸，可自動標記或用戶定義有效通光孔徑，便于判定測試合格/不合格
簡單易用的測試軟件界面便于光學原件的批量測試，使任何人只要稍加培訓就可以輕松測試多樣的光學原件，專業的樣品承載臺可快速批量測試每個零件。非接觸式傳感器開始測量并能快速分析判斷產品合格/不合格
設計簡潔，占地小，沒有雜亂的電纜，只有交流電源和USB電纜到電腦
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