目錄:聯合光科技(北京)有限公司>>測量儀器>>光學器件性能檢測儀器>> 750175人工晶體波前測量儀
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 綜合 |
全歐光學WaveMaster波前測量儀用于球面透鏡,非球面透鏡和光學系統的波前測量,集成了準直系統,擴束或縮束系統,高精度樣品臺,多種光源和WaveSensor波前傳感器。此傳感器采用夏克-哈特曼傳感器原理,用于平面、球面、非球面面型的檢測,光學系統像差檢測,輸出激光光束質量檢測,光束動態變化檢測,自適應系統波前的探測,并有針對大口徑光學和人工晶體波前檢測的解決方案。WaveMaster波前測量儀主要用來測量大型雙遠心鏡頭的全場波前,還可給出被測樣品的面型(PV和RMS),澤尼克系數(Zernike),點擴散函數(PSF),調制傳遞函數,斯特列爾比,楔角。同時,該產品也可用于人工晶體在空氣中或原位中的檢測,晶體低階和高階的相差,晶體的調制傳遞函數(MTF),晶體的點擴散函數(PSF),晶體屈光度和像差。軟件具有多種模塊功能,簡單易用,用戶可根據需要進行選擇。
WaveMaster® IOL 2是一款基于波前測量,可用于單焦、環曲面、球面、非球面人工晶體的檢測。它是一款可以用于研發,也可用于的生產,主要測量屈光度,像差以及基于波前分析計算的快速MTF測量。該設備可支持人工晶體在空氣中及模擬眼環境中測量,也可實現對環曲面人工晶體的MTF測量。
應用范圍
人工晶體在空氣中和模擬眼中的波前檢測
屈光度和散光度的檢測
低階和高階像差(澤尼克分析)的檢測
像質(MTF)檢測
環形人工晶體的軸偏差及標識自動識別