目錄:聯(lián)合光科技（北京）有限公司>>測(cè)量?jī)x器>>光學(xué)器件性能檢測(cè)儀器>> 750118 750119量產(chǎn)型波前測(cè)量?jī)x
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更新時(shí)間：2024-04-02 10:01:23瀏覽次數(shù)：58評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
全歐光學(xué)WaveMaster波前測(cè)量?jī)x用于球面透鏡，非球面透鏡和光學(xué)系統(tǒng)的波前測(cè)量，集成了準(zhǔn)直系統(tǒng)，擴(kuò)束或縮束系統(tǒng)，高精度樣品臺(tái)，多種光源和WaveSensor波前傳感器。此傳感器采用夏克-哈特曼傳感器原理，用于平面、球面、非球面面型的檢測(cè)，光學(xué)系統(tǒng)像差檢測(cè)，輸出激光光束質(zhì)量檢測(cè)，光束動(dòng)態(tài)變化檢測(cè)，自適應(yīng)系統(tǒng)波前的探測(cè)，并有針對(duì)大口徑光學(xué)和人工晶體波前檢測(cè)的解決方案。WaveMaster波前測(cè)量?jī)x主要用來(lái)測(cè)量大型雙遠(yuǎn)心鏡頭的全場(chǎng)波前，還可給出被測(cè)樣品的面型（PV和RMS），澤尼克系數(shù)（Zernike），點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)（PSF），調(diào)制傳遞函數(shù)，斯特列爾比，楔角。同時(shí)，該產(chǎn)品也可用于人工晶體在空氣中或原位中的檢測(cè)，晶體低階和高階的相差，晶體的調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF），晶體的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)（PSF），晶體屈光度和像差。軟件具有多種模塊功能，簡(jiǎn)單易用，用戶可根據(jù)需要進(jìn)行選擇。
WaveMaster® PRO系列產(chǎn)品是為了適應(yīng)波前質(zhì)量的大批量檢測(cè)的需求而研發(fā)的兩款儀器，可自行設(shè)置合格標(biāo)準(zhǔn)，并根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)判定合格和不合格。WaveMaster® PRO 2和WaveMaster® PRO 2 reflex配備托盤系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)單個(gè)小鏡片的大批量檢測(cè)。WaveMaster® PRO Wafer則可以對(duì)晶圓級(jí)鏡頭的波前進(jìn)行快速檢測(cè)。
應(yīng)用范圍：
生產(chǎn)線上的大批量鏡頭波前和表面面形的檢測(cè)
晶圓級(jí)鏡頭的波前檢測(cè)
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