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全歐光學WaveMaster波前測量儀用于球面透鏡，非球面透鏡和光學系統的波前測量，集成了準直系統，擴束或縮束系統，高精度樣品臺，多種光源和WaveSensor波前傳感器。此傳感器采用夏克-哈特曼傳感器原理，用于平面、球面、非球面面型的檢測，光學系統像差檢測，輸出激光光束質量檢測，光束動態變化檢測，自適應系統波前的探測，并有針對大口徑光學和人工晶體波前檢測的解決方案。WaveMaster波前測量儀主要用來測量大型雙遠心鏡頭的全場波前，還可給出被測樣品的面型（PV和RMS），澤尼克系數（Zernike），點擴散函數（PSF），調制傳遞函數，斯特列爾比，楔角。同時，該產品也可用于人工晶體在空氣中或原位中的檢測，晶體低階和高階的相差，晶體的調制傳遞函數（MTF），晶體的點擴散函數（PSF），晶體屈光度和像差。軟件具有多種模塊功能，簡單易用，用戶可根據需要進行選擇。

WaveMaster® COMPACT系列產品可以簡單快速的完成對球面或非球面鏡片波前質量的檢測，并運用澤尼克多項式實時分析波前數據，在生產和研發上都有著廣泛應用。WaveMaster® COMPACT2 Universal是專業級的波前測量儀，集成了WaveMaster® COMPACT2和WaveMaster® COMPACT2 Reflex所有功能。

應用范圍：

• 各種球面或非球面鏡片光學波前面和鏡片或鏡頭的表面面形的檢測。