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[供應(yīng)]德國(guó)EPK MiniTest3100 涂鍍層測(cè)厚儀
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  • 德國(guó)EPK MiniTest3100 涂鍍層測(cè)厚儀
貨物所在地:
廣東深圳市
更新時(shí)間:
2020-09-12 21:01:54
有效期:
2020年9月12日 -- 2021年3月12日
已獲點(diǎn)擊:
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產(chǎn)品分類品牌分類

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

德國(guó)EPK MiniTest3100 涂鍍層測(cè)厚儀所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇蕞適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

詳細(xì)介紹

德國(guó)EPK MiniTest3100 涂鍍層測(cè)厚儀所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇蕞適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

型號(hào)

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量

應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

1

1

10

99

每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值)

 

1

 

500

可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)

 

1

 

 

數(shù)據(jù)總量

 

10000

10000

10000

MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar

 

讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

 

組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar

 

 

組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

 

存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

 

 

 

分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值

 

 

顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間

 

其他功能

設(shè)置極限值

 

 

連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別zui大zui小值

 

 

連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

 

 

連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值

 

 

探頭 

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

zui小曲率半徑
(凸/凹)

zui小測(cè)量
區(qū)域直徑

zui小基
體厚度

探頭尺寸



應(yīng)

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

 

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

 

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

 

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

 

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

 

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

 

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

 

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm


FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

 

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm

 

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm




N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

 

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

 

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

 

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

 

N2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

50μm

φ15x62mm

 

N2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

 

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

 

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

 

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

 

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

無(wú)限制

φ17x80mm

德國(guó)EPK MiniTest3100 涂鍍層測(cè)厚儀 

FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測(cè)頭, 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度

 

FN2
0~2000μm,φ5mm
兩用測(cè)頭,可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層

 

F05
0~500μm,φ3mm
磁性測(cè)頭,適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(O.1μm)

 

F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
量程低端分辨率很高(O.1μm)

 

F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
可用于較厚的覆層

 

F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(O.1μm)

 

F2/90
0~2000μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量

 

F10
0~10mm,φ20mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
如玻璃、塑膠、混凝土等

 

F20
0~20mm,φ40mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
如玻璃、塑膠、混凝土等

 

F50
0~50mm,φ300mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

 

N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭,尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)

 

N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

 

N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)

 

N2
0~2000μm,φ5mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層

 

N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(O.1μm)

 

N2/90
0~2000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭, 尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量

 

N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

 

N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

 

N100
0~100mm,200mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

 

CN02
10~200μm,φ7mm
用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

 

FN1.6

0~1600μm,φ5mm

兩用測(cè)頭,可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(O.1μm)

F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能 

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