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一、iEDX-150AT型R角厚度分析儀技術參數：
1. X高壓電源：輸入電壓 50V，總功率50W，輸出電壓3-50KV連續可調，輸出電流0-2mA
2. 探測器類型：電子制冷式硅漂移SDD探測器
3. 探測器分辨率：125eV， Be窗0.3-0.5mi
4.X射線管：微焦長壽命X射線管
5. 準直器:Φ0.2mm（可選Φ.0.2mm、Φ0.3mm、Φ0.5mm、Φ1mm、Φ4mm、Φ4mm)
6. 攝像頭：分辨率1.3 million
7. 控制板:X光控制，機械動作控制
8. 外形尺寸:618*525*490mm WxDxH（寬*深*高）
9. 平臺移動范圍:≥160mm*160mm*90mm(X*Y*Z)
10. 樣品倉尺寸：≥500*400*200mm
11. 樣品臺尺寸:≥220*250mm（長*高）
12. 平臺最大負荷:5Kg
13. 工作距離：5mm
14. 正版操作系統：win10,win11等
15. 分析軟件：MultiRay，FP算法
16. 測量精度：0.001um
17. 電源電壓：220V，50/60Hz
18. 功率：600W
19. 重量:85Kg
20. 測量結果一鍵生成測量報告，可直接打印輸出，可提供包括中、英文在內的多語言軟件，軟件終生免費升級
二、iEDX-150AT型R角厚度分析儀功能特點：
1. 具備全自動檢測功能，XYZ三維全自動操作平臺
2. 每次開機測試前不需要預熱，每次測試時不需要元素片校準
3. 開放式的編程功能，可以多樣品或連續多點測
4. 上照式光源系統，方便樣品的擺放及測試
5. 全封閉樣品倉，雙重輻射聯鎖保護裝置，確保無輻射泄露
6. 自動聚焦功能，鼠標選點，即選即測
7. 采用*進真實的FP分析方法，疊加MultiRay分析軟件，做到數據實時存儲及隨時調用
8. 輻射豁免相關許可
三、其它配件：
1. 標準片：20μm，30μm，40μm左右，共3個，以證書厚度為準，每片附帶證書
2. R角測試治具：2個（定制）
3. 標片校準用治具：1個（定制）
4. 原材料測試治具：1個（定制）
5. 點檢治具：1 個（定制）
6. 電腦：控制系統計算機：具有USB接口的PC機 ,CPU 雙核2.8G及以上,內存\硬盤8G\1T
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