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TSI 3086型DMA差分靜電遷移分析儀
該3086型1nm-DMA差分靜電遷移分析儀一般和TSI 3082型靜電分級器 、 3777型納米增強儀 以及凝聚粒子計數器 配套使用，且該分析儀工作流程已經被優化，不但能夠將散逸損失降至zui低，而且能夠提高1nm到50nm顆粒物的粒徑測量的粒徑分辨率。
特點和優勢
分析從1到50nm粒徑的顆粒物
SMPS（掃描電遷移粒徑譜儀）的關鍵組件
應用
顆粒物粒徑測量
設計與TSI的3082型靜電分級器和TSI的3777型納米增強劑CPC一起使用，3086型1nm-DMA具有優化的流路，可減少擴散損失并提高粒徑范圍在1至50 nm范圍內的尺寸分辨率。
特點和優點
分析從1到50納米的粒子
SMPS系統的關鍵組件
應用
粒子尺寸
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