當前位置:上海匯分電子科技有限公司>>氣溶膠粒徑譜儀>> 美國TSI 3330美國TSI 3330型光學顆粒物粒徑譜儀
產地類別 | 進口 |
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儀器簡介:
3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便,能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI40年氣溶膠儀器設計的經驗,本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統,從而得到高質量和高精度的數據。同時,TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精確性。3330不僅可以單獨使用,而且還可以放入TSI的外場環境箱中在野外使用。
技術參數:
測量原則
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制
zui高3,000個/ cm3 (3,000,000個/L)
質量濃度
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑
檢測粒徑范圍 0.3-10 mm
粒徑分辨率 0.5mm時5%(符合ISO 21501-01/04)
粒徑通道 zui多16通道,用戶可調
主要特點:
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
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