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應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

HT-391手持式四探針?lè)阶铚y(cè)試儀參照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》；GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā罚籊B/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā罚杉呻娐泛懔髟聪到y(tǒng)，可充電式電源系統(tǒng)，上下限設(shè)定。

HT-391手持式四探針?lè)阶铚y(cè)試儀功能介紹：

手持式外型結(jié)構(gòu)，適用于車間生產(chǎn)、品管抽檢，外出攜帶測(cè)量的場(chǎng)所；也適用于中小型半導(dǎo)體材料生產(chǎn)企業(yè).

HT-391手持式四探針?lè)阶铚y(cè)試儀參數(shù)資料：

規(guī)格型號(hào)	HT-391A	HT-391B	HT-391C
1.方塊電阻范圍	10～2.00×102Ω/□	10～2.00×103Ω/□	10～2.00×104Ω/□
2.電阻率范圍	1～2×103Ω-cm	1～2×104Ω-cm	1～2×105Ω-cm
3.分辨率	0.01Ω	0.01Ω	0.01Ω
4.顯示讀數(shù)	液晶顯示：電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度
5.測(cè)試方式	單電測(cè)量
6.工作電源	5V.1000mA
7. 誤差	≤4.5%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
8.選配	選配1.方形探頭；選配2.直線形探頭；探針間距；選配3：探針間距1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 選配4：探針材質(zhì)：碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針

參數(shù)資料

規(guī)格型號(hào)	HT-392A	HT-392B	HT-392C
1.方塊電阻范圍	0.1～2.00×102Ω/□	0.1～2.00×103Ω/□	0.1～2.00×104Ω/□
2.電阻率范圍	0.01～2×103Ω-cm	0.01～2×104Ω-cm	0.01～2×105Ω-cm
3.分辨率	0.01Ω	0.01Ω	0.01Ω
4.顯示讀數(shù)	液晶顯示：電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度
5.測(cè)試方式	單電測(cè)量
6.工作電源	5V.1000mA
7. 誤差	≤4.5%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
8.選配	選配1.方形探頭；選配2.直線形探頭；探針間距；選配3：探針間距1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 選配4：探針材質(zhì)：碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針

HT-393系列手持式方塊電阻測(cè)試儀

技術(shù)參數(shù)資料

規(guī)格型號(hào)	HT-393A	HT-393B	HT-393C
1.方塊電阻范圍	0.01～2.00×102Ω/□	0.01～2.00×103Ω/□	0.01～2.00×104Ω/□
2.電阻率范圍	0.001～2×103Ω-cm	0.001～2×104Ω-cm	0.001～2×105Ω-cm
3.分辨率	0.001Ω	0.001Ω	0.001Ω
4.顯示讀數(shù)	液晶顯示：電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度
5.測(cè)試方式	單電測(cè)量
6.工作電源	5V.1000mA
7.誤差	≤4.5%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
8.選配	選配1.方形探頭；選配2.直線形探頭；探針間距；選配3：探針間距1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 選配4：探針材質(zhì)：碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針

HT-394系列手持式四探針電阻率測(cè)試儀

技術(shù)參數(shù)資料

規(guī)格型號(hào)	HT-394A	HT-394B	HT-394C
1.方塊電阻	0.001～2.00×102Ω/□	0.001～2.00×103Ω/□	0.001～2.00×104Ω/□
2.電阻率	0.0001～2×103Ω-cm	0.0001～2×104Ω-cm	0.0001～2×105Ω-cm
3.分辨率	0.001Ω	0.001Ω	0.001Ω
4.顯示讀數(shù)	液晶顯示：電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度
5.測(cè)試方式	單電測(cè)量
6.工作電源	5V.1000mA
7.誤差	≤4.5%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
8.選配	選配1.方形探頭；選配2.直線形探頭；探針間距；選配3：探針間距1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 選配4：探針材質(zhì)：碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針

適用范圍：

1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

2.硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，

3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，

4.抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等，

功能描述：

1. 四探針單電測(cè)量方法

2. 液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.

3. 集成電路系統(tǒng)、恒流輸出.

4. 提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇

參照標(biāo)準(zhǔn)：

1.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）.

2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?

4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?/span>

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