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上海壹僑國(guó)際貿(mào)易有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： FILA，DEBOLD，ESTA，baumer，bernstein，bucher，PILZ，camozzi，schmalz |
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上海壹僑國(guó)際貿(mào)易有限公司
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| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2025-03-17 21:19:13瀏覽次數(shù)：442
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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【特點(diǎn)】
測(cè)量范圍在0 ... 20 N和0 ... 2MN
用于靜態(tài)和動(dòng)態(tài)的力量
高線性度0.1％F.S.
非常低的靈敏度，側(cè)向力影響較小
85073/85075系列傳感器適合*的動(dòng)態(tài)應(yīng)力
擴(kuò)展溫度補(bǔ)償范圍-55°C至120°C（可選）
防護(hù)等級(jí)IP68（可選）
常見(jiàn)型號(hào)如下：
BURSTER 傳感器? 85041-0.02
BURSTER 傳感器 85041-0.02
85041-0.05
85041-0.1
85041-0.2
85041-0.5
85041-1
85041-2
85041-5
85041-10
85041-20
85041-50
85041-100
85041-200
85041-500
85041-7001
85041-7002
【應(yīng)用】
burster85040/burster85070系列力傳感器具備優(yōu)良靜態(tài)和動(dòng)態(tài)性能，并具有的精度和使用壽命。此外，高防護(hù)等級(jí)（可選IP68）和側(cè)向力對(duì)測(cè)量影響甚微意味著這個(gè)系列力傳感器可用于幾乎任何工業(yè)、實(shí)驗(yàn)室和車間。應(yīng)用實(shí)例：
插入力
摩擦力
重量（如糧倉(cāng)，跳過(guò)）
拉力（張力電纜，鏈條等。
與負(fù)荷中心板）
材料測(cè)試
力傳感器（burster85043系列和burster85073）的力量，必須通過(guò)安裝夠硬的平面板或活塞。對(duì)于應(yīng)用中，特別是要求高壽命（109負(fù)荷周期），我們建議使用burster85070系列。
【描述】
傳感器的中心部分施加力（力引入）和外圈（與緊固孔），應(yīng)變儀施加的力敏感元件。該傳感器是密封的膜焊接到頂部和底部。這些膜防止橫盤時(shí)的側(cè)向力或力矩作用在設(shè)備上的中央部分。
burster85041系列和burster85075（拉伸/壓縮）在拉伸方向上進(jìn)行校準(zhǔn)。特征圖的壓縮方向理論上允許±0.25％的變化，從圖中的拉伸方向。輸出信號(hào)為正時(shí)，所施加的力拉伸。
85070系列（burster85073系列和burster85075）具有良好的動(dòng)態(tài)特性和較長(zhǎng)的使用壽命。
burster 85041-0.02
burster 85041-0.05
burster 85041-0.1
burster 85041-0.2
burster 85041-0.5
burster 85041-1
burster 85041-2
burster 85041-5
burster 85041-10
burster 85041-20
burster 85041-50
burster 85041-100
burster 85041-200
burster 85041-500
burster 85041-7001
burster 85041-7002
Burster傳感器德國(guó)BURSTER公司于1961年由IRMGARD和HUBERT BURSTER創(chuàng)立，1964年搬遷至現(xiàn)在的總部所在地GERNSBACH,1971年推出了*支全自動(dòng)數(shù)字歐姆計(jì)，1980年通過(guò)PTB的DKD測(cè)試，并推出BURSTER公司*只智能型產(chǎn)品，1982年制造出了*只微處理器控制的儀器，1991年公司在全行業(yè)危機(jī)中*，并且啟用了現(xiàn)在通用的新LOGO,1996公司通過(guò)了ISO9001認(rèn)證，1998年推出了*的DIFIFORCE系列產(chǎn)品，2003年公司采取了集中化策略，重點(diǎn)發(fā)展測(cè)量及檢測(cè)自動(dòng)化產(chǎn)品，2004年BURSTER獲得了*雇主五稱號(hào)，德國(guó)博斯特BURSTER近五十年來(lái)一直以產(chǎn)品的精確，高質(zhì)以及廣泛的適應(yīng)性為基準(zhǔn)，主要提供精密儀器，傳感器及其信號(hào)處理系統(tǒng)，產(chǎn)品獲得了*的*認(rèn)可，德國(guó)博斯特BURSTER LOAD CELL稱重傳感器 張力計(jì) 測(cè)壓元件。銷售型號(hào)有：2304/2305、2316、2320、2323、2329、1240、2381/2385、24508、8201、8201H、8221、8402、8415/8416、8417、8431、8435、8438、8451、8510、8511、8523/8531、8524、8526、86402、8645、8651、8710、8712、8739、8740、8741、5410、9162、9180、9181、9186、9205、9221、9235、9243、5510、9306、9310、7280、9405、1240、1282。德國(guó)：Model 8402： 8402-6001：0-1 kN ；8402-6002：0-2 kN ；8402-6005：0-5 kN ；8402-6010：0-10kN；8402-6020：0-20kN；8402-6050：0-50kN ；8402-6100：0-100kN；德國(guó)Burster Model 8415： 8415-5200：0-200N 2.0kHz(諧振頻率)；8415-5500：0-500N 4.0kHz(諧振頻率)；8415-6001：0-1000N 6.5kHz(諧振頻率)；8415-6002：0-2000N 10.5kHz(諧振頻率)；德國(guó)Burster 8415-6005：0-5000N 20.0kHz(諧振頻率)；Model 8416： 8416-5100：0-100N 6kHz(頻率)；8416-5200：0-200N 20kHz(頻率)；8416-5500：0-500N 18kHz(頻率)；德國(guó)Burster 8416-6001：0-1000N 30kHz(頻率)；等等。
優(yōu)價(jià)銷售:
Schmidt S22_HKP11R;SCHMIDT Kniehebelpresse Nr. 11R 壓力機(jī)
Schmidt S22_HZP3R;SCHMIDT Zahnstangenpresse Nr. 3 R 壓力機(jī)
Schmidt S22_HKP11R;SCHMIDT Kniehebelpresse Nr. 11R 手動(dòng)壓力機(jī)
SCHMIDT Technology GmbH S22_HKP13RF 壓力機(jī)
SCHMIDT Technology GmbH 407181.13 壓力機(jī)附件
Schmidt 403570.02 壓力機(jī)附件
Schmidt 406522.03.11 壓力機(jī)附件
Schmidt 406325.02 壓力機(jī)附件
Schmidt 507553 壓力機(jī)附件
Schmidt S22_HKP11R;SCHMIDT Kniehebelpresse Nr. 11R 壓力機(jī)
Schmidt S22_HZP3R;SCHMIDT Zahnstangenpresse Nr. 3 R 壓力機(jī)
Schmidt S22_HKP11R;SCHMIDT Kniehebelpresse Nr. 11R 手動(dòng)壓力機(jī)
Schmidt 400065.04FL 壓機(jī)
Schmidt SS 20.400 流量傳感器
Schmidt SS20.260 Einbaulaenge100mm Messbereich0-10m/s Ausgang2X4-2mA 流量計(jì)
Schmidt S22_HZP3R SCHMIDT Zahnstangenpresse Nr. 3 R 壓力機(jī)
Schmidt 508520 流量傳感器
Schmidt 508520 流量傳感器
Schmidt S22_HZP6RZ; Nr: 6RZ 壓力機(jī)
SCHMIDT Technology GmbH S22_HZP6R; Nr: 6R 壓力機(jī)
Schmidt S22_HKP13R，Nr.:13R 壓力機(jī)
Kniehebelpresse SCHMIDT? Manual Press 111 mit ergonomischem Handgriff
Manualle Presse
Kr?fte von 1,6 kN bis 22 kN
Ausladungen von 65 mm bis 200 mm
Arbeitsh?hen von 60 mm bis 600 mm
Wirtschaftliche Fertigung bedeutet, angemessene Produktionsmittel einzusetzen – und nicht Automation um jeden Preis. Gerade bei Kleinserien ist ein Handarbeitsplatz mit mechanischen Pressen oftmals die wirtschaftlichste L?sung. Damit Sie Ihre Produktionsziele erreichen, haben wir die mechanischen Pressen st?ndig weiterentwickelt. Produktionserfahrungen aus einer Vielzahl von Anwendungen sind konsequent in die aktuellen Modelle eingeflossen. Somit k?nnen wir Ihnen ein breites Sortiment an mechanischen Pressen anbieten, welches Ihren Applikationen gerecht wird.
Merkmale:
?Flexibilit?t
- Schnelle Umrüstbarkeit durch einfache und sichere Verstellung der Arbeitsh?he.
- Geschliffene Pressentische erlauben eine reproduzierbare Positionierung Ihrer Werkzeuge.
- Durch Passbohrungen in St??el und Tischplatte verlieren Sie keine Zeit mit dem Ausrichten der Werkzeuge.
?Ergonomie
- Die Ausgangsstellung des Handhebels kann um 360° variiert werden.
- ergonomische Horizontalzugvarianten
(111/113)
- Ausführung für Links- und Rechtsh?nder lieferbar.
- Klemmlager und Kerbverzahnung sorgen für sicheren Sitz des Hebels.
- Die St??elrückstellkraft kann an verschiedene Werkzeuggewichte angepasst werden.
?Pr?zision
- Fluchtung < 0,05 mm zwischen Ober- und Unterwerkzeug
?Wartungsfreiheit
- Keine Schmierung notwendig
?Lange Lebensdauer
Je nach Anwendungsfall k?nnen Sie zwischen einer Vielzahl von Zahnstangenpressen und Kniehebelpressen w?hlen. Darüber hinaus bietet Ihnen ein modularer Produktaufbau die M?glichkeit, vielf?ltige Ausstattungsoptionen zu w?hlen.
Pneumatische Presse
SCHMIDT Pneumatische Pressen
Kr?fte von 1,6 kN bis 60 kN
Ausladungen von 86 mm bis 200 mm
Arbeitsh?hen von 90 mm bis 600 mm
Bei den mit Druckluft betriebenen SCHMIDT? PneumaticPress handelt es sich um ein modulares System, welches im Presskraftbereich von 1,6 - 60 kN den Anforderungen aus den Bereichen Umformen, Fügen und Montieren optimal gerecht wird.
In Kombination mit der SteuerungSCHMIDT? PressControl 600 werden die pneumatischen Pressen zu EG-baumustergeprüften, CE-konformen Arbeitspl?tzen, wahlweise mit Prozessüberwachung. So k?nnen die Pressensysteme sowohl im Einzeltakt, als auch im Automatikbetrieb in teil- und vollautomatisierten Montageanlagen eingesetzt werden.
Merkmale:
?Optimale Anpassung an individuelle Anforderungen durch modularen Aufbau.
?Prozessoptimierung durch einstellbare Parameter (Hub, Kraft, Geschwindigkeit).
?Einfache Anpassung an unterschiedliche Werkzeug- und Werkstückh?hen durch stufenlose Hub- und H?henverstellung.
?Einfache und genaue Positionierung von Werkzeugen durch zentrische Passbohrung und z. T. Querbohrung mit Feststellschraube im geschliffenen Pressentisch.
?Zus?tzlicher Unfallschutz bei Verwendung schwerer Werkzeuge durch (optionale) St??elhochhalteeinrichtung nach DIN EN 13736.
?Optionale Endlagenabfrage über Zylinderschalter als Signalgeber für periphere Prozesse.
?Niedriger Ger?uschpegel (< 75 dBA)
?Doppelt wirkende, verschlei?arme Zylinder mit geringem Luftverbrauch für den Rückhub. Der Rückhub erfolgt standardm??ig über eine Zylinderkammer.
?Hohe Flexibilit?t durch kurze Umrüstzeiten.
?Langlebig und pr?zise durch wartungsfreie, teflonbeschichtete Lager.
?Geschliffener St??el
?Pr?zise, doppelte St??ellagerung
23．只讀存儲(chǔ)器作用測(cè)試：
可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。
24．元器件循環(huán)測(cè)試作用：
該作用可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）。
25．?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)作用：
閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。通過(guò)調(diào)整器件的閾值電平，能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動(dòng)能力下降導(dǎo)致的電路故障。
26．加電延遲可選作用：
當(dāng)遇到被測(cè)電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此作用。該選項(xiàng)是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后，需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。
27．測(cè)試夾接觸檢查作用：
主要解決當(dāng)測(cè)試夾和被測(cè)器件接觸不良（如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等）時(shí)，造成的測(cè)試誤判。
28．運(yùn)算放大器在線作用測(cè)試：
使用模擬信號(hào)測(cè)試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性，測(cè)試技術(shù)或國(guó)家發(fā)明，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，包含LM324、LM348等共計(jì)3000多種。
29. 電壓比較器測(cè)試：
模擬電壓比較器用于判斷兩個(gè)信號(hào)的微小差異，通過(guò)本測(cè)試儀可以很容易測(cè)試。
30．光電耦合器在線作用測(cè)試：
由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵(lì)信號(hào)測(cè)試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，準(zhǔn)確度高；有獨(dú)立的光耦測(cè)試器件庫(kù)，
達(dá)500多種。
31．光電耦合器離線直流參數(shù)測(cè)試：
可在離線情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)（如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等）進(jìn)行測(cè)試，解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率；
32．UDT自定義測(cè)試平臺(tái)：
把測(cè)試儀的測(cè)試通道開(kāi)放給用戶，由用戶對(duì)被測(cè)元件或電路的輸入施加激勵(lì)信號(hào)，然后從輸出采集響應(yīng)信號(hào)，類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測(cè)試方法。
33. UDT下AD、DA類器件作用測(cè)試：
用戶通過(guò)UDT控制聰能測(cè)試儀，向被測(cè)試器件（AD/DA）或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵(lì)信號(hào)，從輸出取回相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào)，通過(guò)比較相同激勵(lì)信號(hào)下，器件/電路的實(shí)測(cè)響應(yīng)信號(hào)和預(yù)期（標(biāo)準(zhǔn)）響應(yīng)信號(hào)的符合程度，實(shí)現(xiàn)故障檢測(cè)。
34. AFT電路故障追蹤：
AFT可以看成“信號(hào)發(fā)生器+示波器”測(cè)試方式的直接擴(kuò)充。本測(cè)試儀上能夠設(shè)置多種測(cè)試信號(hào)，并且能把測(cè)試信號(hào)以及好板電路對(duì)測(cè)試信號(hào)的響應(yīng)，關(guān)聯(lián)在一起存放在計(jì)算機(jī)中――建立用戶自己的電路板測(cè)試庫(kù)，用于對(duì)故障板的測(cè)試；也可以把同樣的測(cè)試信號(hào)同時(shí)加在好、壞板的電路上，直接對(duì)照兩者的輸出結(jié)果。
35．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試:
使用模擬信號(hào)提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系，測(cè)試時(shí)無(wú)須加電，通/斷閾值設(shè)置明確。能夠支持對(duì)用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開(kāi)路、短路測(cè)試變的更加方便和快捷。
36. 晶體管輸出特性曲線測(cè)試：
可以測(cè)出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小以及均勻程度，直觀看到晶體管的三個(gè)區(qū)：截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況。可用于晶體管的篩選，尤其在晶體管配對(duì)時(shí)特別有用。
37．填表方式擴(kuò)充模擬器件庫(kù)：
以填表的方式定義模擬器件的各管腳狀態(tài)：如：正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接地腳，以及其他狀態(tài)等。
38．以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù)：
采用HNDDL語(yǔ)言，自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴(kuò)充程序直接開(kāi)放給用戶，由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù)。
39．元器件速查手冊(cè)（電子詞典）：
元件庫(kù)容量近四萬(wàn)種，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
40．維修日記：
供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì)，發(fā)生的重要事情等，長(zhǎng)期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn)，會(huì)大大提高維修水平和技能。
41．后臺(tái)操作記錄：
測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過(guò)程及測(cè)試結(jié)果等信息。
錨點(diǎn)錨點(diǎn)錨點(diǎn)
技術(shù)指標(biāo)
編輯
1．操作系統(tǒng)：支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。
2．通訊接口：主流的USB接口。
3．?dāng)?shù)字測(cè)試通道： 40通道。
4．?dāng)?shù)字通道電平范圍：5V邏輯電平通道。
5．模擬測(cè)試通道： 80路（雙屬性通道）。
6．總線隔離數(shù)字通道： 8通道。
7．后驅(qū)動(dòng)電流： ≥200 mA。
8．?dāng)?shù)字通道測(cè)試速度： （1～45 Ktv/S）8檔可選。
9．在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 11種。
10．?dāng)?shù)字器件的閾值電平： TTL、CMOS5 緊/松調(diào)節(jié)；自定義調(diào)節(jié)。
11.程控外供電源（自動(dòng)控制、自保護(hù)作用）： 5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。
12．電源加電延遲時(shí)間：（0.5～7）秒 6檔可選。
13．測(cè)試探棒: 2組8個(gè)測(cè)試口。
14．模擬信號(hào)掃描電壓幅度： ±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào)。
15．VI分辨率： 8～128點(diǎn)/周期。
16．輸出阻抗匹配： 100Ω / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選。
17．模擬通道大測(cè)試頻率: 1KHZ。
18．脈沖發(fā)生器脈沖幅度： ±1V～±28V。
19．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值： 25Ω±5Ω。
20．腳踏開(kāi)關(guān)：支持。
21．參數(shù)測(cè)試模塊：支持。
23．只讀存儲(chǔ)器作用測(cè)試：
可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。
24．元器件循環(huán)測(cè)試作用：
該作用可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）。
25．?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)作用：
閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。通過(guò)調(diào)整器件的閾值電平，能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動(dòng)能力下降導(dǎo)致的電路故障。
26．加電延遲可選作用：
當(dāng)遇到被測(cè)電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此作用。該選項(xiàng)是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后，需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。
27．測(cè)試夾接觸檢查作用：
主要解決當(dāng)測(cè)試夾和被測(cè)器件接觸不良（如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等）時(shí)，造成的測(cè)試誤判。
28．運(yùn)算放大器在線作用測(cè)試：
使用模擬信號(hào)測(cè)試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性，測(cè)試技術(shù)或國(guó)家發(fā)明，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，包含LM324、LM348等共計(jì)3000多種。
29. 電壓比較器測(cè)試：
模擬電壓比較器用于判斷兩個(gè)信號(hào)的微小差異，通過(guò)本測(cè)試儀可以很容易測(cè)試。
30．光電耦合器在線作用測(cè)試：
由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵(lì)信號(hào)測(cè)試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，準(zhǔn)確度高；有獨(dú)立的光耦測(cè)試器件庫(kù)，
達(dá)500多種。
31．光電耦合器離線直流參數(shù)測(cè)試：
可在離線情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)（如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等）進(jìn)行測(cè)試，解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率；
32．UDT自定義測(cè)試平臺(tái)：
把測(cè)試儀的測(cè)試通道開(kāi)放給用戶，由用戶對(duì)被測(cè)元件或電路的輸入施加激勵(lì)信號(hào)，然后從輸出采集響應(yīng)信號(hào)，類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測(cè)試方法。
33. UDT下AD、DA類器件作用測(cè)試：
用戶通過(guò)UDT控制聰能測(cè)試儀，向被測(cè)試器件（AD/DA）或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵(lì)信號(hào)，從輸出取回相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào)，通過(guò)比較相同激勵(lì)信號(hào)下，器件/電路的實(shí)測(cè)響應(yīng)信號(hào)和預(yù)期（標(biāo)準(zhǔn)）響應(yīng)信號(hào)的符合程度，實(shí)現(xiàn)故障檢測(cè)。
34. AFT電路故障追蹤：
AFT可以看成“信號(hào)發(fā)生器+示波器”測(cè)試方式的直接擴(kuò)充。本測(cè)試儀上能夠設(shè)置多種測(cè)試信號(hào)，并且能把測(cè)試信號(hào)以及好板電路對(duì)測(cè)試信號(hào)的響應(yīng)，關(guān)聯(lián)在一起存放在計(jì)算機(jī)中――建立用戶自己的電路板測(cè)試庫(kù)，用于對(duì)故障板的測(cè)試；也可以把同樣的測(cè)試信號(hào)同時(shí)加在好、壞板的電路上，直接對(duì)照兩者的輸出結(jié)果。
35．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試:
使用模擬信號(hào)提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系，測(cè)試時(shí)無(wú)須加電，通/斷閾值設(shè)置明確。能夠支持對(duì)用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開(kāi)路、短路測(cè)試變的更加方便和快捷。
36. 晶體管輸出特性曲線測(cè)試：
可以測(cè)出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小以及均勻程度，直觀看到晶體管的三個(gè)區(qū)：截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況。可用于晶體管的篩選，尤其在晶體管配對(duì)時(shí)特別有用。
37．填表方式擴(kuò)充模擬器件庫(kù)：
以填表的方式定義模擬器件的各管腳狀態(tài)：如：正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接地腳，以及其他狀態(tài)等。
38．以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù)：
采用HNDDL語(yǔ)言，自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴(kuò)充程序直接開(kāi)放給用戶，由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù)。
39．元器件速查手冊(cè)（電子詞典）：
元件庫(kù)容量近四萬(wàn)種，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
40．維修日記：
供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì)，發(fā)生的重要事情等，長(zhǎng)期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn)，會(huì)大大提高維修水平和技能。
41．后臺(tái)操作記錄：
測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過(guò)程及測(cè)試結(jié)果等信息。
錨點(diǎn)錨點(diǎn)錨點(diǎn)
技術(shù)指標(biāo)
編輯
1．操作系統(tǒng)：支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。
2．通訊接口：主流的USB接口。
3．?dāng)?shù)字測(cè)試通道： 40通道。
4．?dāng)?shù)字通道電平范圍：5V邏輯電平通道。
5．模擬測(cè)試通道： 80路（雙屬性通道）。
6．總線隔離數(shù)字通道： 8通道。
7．后驅(qū)動(dòng)電流： ≥200 mA。
8．?dāng)?shù)字通道測(cè)試速度： （1～45 Ktv/S）8檔可選。
9．在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 11種。
10．?dāng)?shù)字器件的閾值電平： TTL、CMOS5 緊/松調(diào)節(jié)；自定義調(diào)節(jié)。
11.程控外供電源（自動(dòng)控制、自保護(hù)作用）： 5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。
12．電源加電延遲時(shí)間：（0.5～7）秒 6檔可選。
13．測(cè)試探棒: 2組8個(gè)測(cè)試口。
14．模擬信號(hào)掃描電壓幅度： ±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào)。
15．VI分辨率： 8～128點(diǎn)/周期。
16．輸出阻抗匹配： 100Ω / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選。
17．模擬通道大測(cè)試頻率: 1KHZ。
18．脈沖發(fā)生器脈沖幅度： ±1V～±28V。
19．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值： 25Ω±5Ω。
20．腳踏開(kāi)關(guān)：支持。
21．參數(shù)測(cè)試模塊：支持。
23．只讀存儲(chǔ)器作用測(cè)試：
可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。
24．元器件循環(huán)測(cè)試作用：
該作用可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）。
25．?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)作用：
閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。通過(guò)調(diào)整器件的閾值電平，能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動(dòng)能力下降導(dǎo)致的電路故障。
26．加電延遲可選作用：
當(dāng)遇到被測(cè)電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此作用。該選項(xiàng)是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后，需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。
27．測(cè)試夾接觸檢查作用：
主要解決當(dāng)測(cè)試夾和被測(cè)器件接觸不良（如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等）時(shí)，造成的測(cè)試誤判。
28．運(yùn)算放大器在線作用測(cè)試：
使用模擬信號(hào)測(cè)試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性，測(cè)試技術(shù)或國(guó)家發(fā)明，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，包含LM324、LM348等共計(jì)3000多種。
29. 電壓比較器測(cè)試：
模擬電壓比較器用于判斷兩個(gè)信號(hào)的微小差異，通過(guò)本測(cè)試儀可以很容易測(cè)試。
30．光電耦合器在線作用測(cè)試：
由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵(lì)信號(hào)測(cè)試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，準(zhǔn)確度高；有獨(dú)立的光耦測(cè)試器件庫(kù)，
達(dá)500多種。
31．光電耦合器離線直流參數(shù)測(cè)試：
可在離線情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)（如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等）進(jìn)行測(cè)試，解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率；
32．UDT自定義測(cè)試平臺(tái)：
把測(cè)試儀的測(cè)試通道開(kāi)放給用戶，由用戶對(duì)被測(cè)元件或電路的輸入施加激勵(lì)信號(hào)，然后從輸出采集響應(yīng)信號(hào)，類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測(cè)試方法。
33. UDT下AD、DA類器件作用測(cè)試：
用戶通過(guò)UDT控制聰能測(cè)試儀，向被測(cè)試器件（AD/DA）或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵(lì)信號(hào)，從輸出取回相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào)，通過(guò)比較相同激勵(lì)信號(hào)下，器件/電路的實(shí)測(cè)響應(yīng)信號(hào)和預(yù)期（標(biāo)準(zhǔn)）響應(yīng)信號(hào)的符合程度，實(shí)現(xiàn)故障檢測(cè)。
34. AFT電路故障追蹤：
AFT可以看成“信號(hào)發(fā)生器+示波器”測(cè)試方式的直接擴(kuò)充。本測(cè)試儀上能夠設(shè)置多種測(cè)試信號(hào)，并且能把測(cè)試信號(hào)以及好板電路對(duì)測(cè)試信號(hào)的響應(yīng)，關(guān)聯(lián)在一起存放在計(jì)算機(jī)中――建立用戶自己的電路板測(cè)試庫(kù)，用于對(duì)故障板的測(cè)試；也可以把同樣的測(cè)試信號(hào)同時(shí)加在好、壞板的電路上，直接對(duì)照兩者的輸出結(jié)果。
35．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試:
使用模擬信號(hào)提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系，測(cè)試時(shí)無(wú)須加電，通/斷閾值設(shè)置明確。能夠支持對(duì)用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開(kāi)路、短路測(cè)試變的更加方便和快捷。
36. 晶體管輸出特性曲線測(cè)試：
可以測(cè)出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小以及均勻程度，直觀看到晶體管的三個(gè)區(qū)：截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況。可用于晶體管的篩選，尤其在晶體管配對(duì)時(shí)特別有用。
37．填表方式擴(kuò)充模擬器件庫(kù)：
以填表的方式定義模擬器件的各管腳狀態(tài)：如：正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接地腳，以及其他狀態(tài)等。
38．以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù)：
采用HNDDL語(yǔ)言，自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴(kuò)充程序直接開(kāi)放給用戶，由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù)。
39．元器件速查手冊(cè)（電子詞典）：
元件庫(kù)容量近四萬(wàn)種，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
40．維修日記：
供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì)，發(fā)生的重要事情等，長(zhǎng)期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn)，會(huì)大大提高維修水平和技能。
41．后臺(tái)操作記錄：
測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過(guò)程及測(cè)試結(jié)果等信息。
錨點(diǎn)錨點(diǎn)錨點(diǎn)
技術(shù)指標(biāo)
編輯
1．操作系統(tǒng)：支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。
2．通訊接口：主流的USB接口。
3．?dāng)?shù)字測(cè)試通道： 40通道。
4．?dāng)?shù)字通道電平范圍：5V邏輯電平通道。
5．模擬測(cè)試通道： 80路（雙屬性通道）。
6．總線隔離數(shù)字通道： 8通道。
7．后驅(qū)動(dòng)電流： ≥200 mA。
8．?dāng)?shù)字通道測(cè)試速度： （1～45 Ktv/S）8檔可選。
9．在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 11種。
10．?dāng)?shù)字器件的閾值電平： TTL、CMOS5 緊/松調(diào)節(jié)；自定義調(diào)節(jié)。
11.程控外供電源（自動(dòng)控制、自保護(hù)作用）： 5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。
12．電源加電延遲時(shí)間：（0.5～7）秒 6檔可選。
13．測(cè)試探棒: 2組8個(gè)測(cè)試口。
14．模擬信號(hào)掃描電壓幅度： ±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào)。
15．VI分辨率： 8～128點(diǎn)/周期。
16．輸出阻抗匹配： 100Ω / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選。
17．模擬通道大測(cè)試頻率: 1KHZ。
18．脈沖發(fā)生器脈沖幅度： ±1V～±28V。
19．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值： 25Ω±5Ω。
20．腳踏開(kāi)關(guān)：支持。
21．參數(shù)測(cè)試模塊：支持。
23．只讀存儲(chǔ)器作用測(cè)試：
可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。
24．元器件循環(huán)測(cè)試作用：
該作用可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）。
25．?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)作用：
閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。通過(guò)調(diào)整器件的閾值電平，能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動(dòng)能力下降導(dǎo)致的電路故障。
26．加電延遲可選作用：
當(dāng)遇到被測(cè)電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此作用。該選項(xiàng)是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后，需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。
27．測(cè)試夾接觸檢查作用：
主要解決當(dāng)測(cè)試夾和被測(cè)器件接觸不良（如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等）時(shí)，造成的測(cè)試誤判。
28．運(yùn)算放大器在線作用測(cè)試：
使用模擬信號(hào)測(cè)試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性，測(cè)試技術(shù)或國(guó)家發(fā)明，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，包含LM324、LM348等共計(jì)3000多種。
29. 電壓比較器測(cè)試：
模擬電壓比較器用于判斷兩個(gè)信號(hào)的微小差異，通過(guò)本測(cè)試儀可以很容易測(cè)試。
30．光電耦合器在線作用測(cè)試：
由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵(lì)信號(hào)測(cè)試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，準(zhǔn)確度高；有獨(dú)立的光耦測(cè)試器件庫(kù)，
達(dá)500多種。
31．光電耦合器離線直流參數(shù)測(cè)試：
可在離線情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)（如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等）進(jìn)行測(cè)試，解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率；
32．UDT自定義測(cè)試平臺(tái)：
把測(cè)試儀的測(cè)試通道開(kāi)放給用戶，由用戶對(duì)被測(cè)元件或電路的輸入施加激勵(lì)信號(hào)，然后從輸出采集響應(yīng)信號(hào)，類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測(cè)試方法。
33. UDT下AD、DA類器件作用測(cè)試：
用戶通過(guò)UDT控制聰能測(cè)試儀，向被測(cè)試器件（AD/DA）或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵(lì)信號(hào)，從輸出取回相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào)，通過(guò)比較相同激勵(lì)信號(hào)下，器件/電路的實(shí)測(cè)響應(yīng)信號(hào)和預(yù)期（標(biāo)準(zhǔn)）響應(yīng)信號(hào)的符合程度，實(shí)現(xiàn)故障檢測(cè)。
34. AFT電路故障追蹤：
AFT可以看成“信號(hào)發(fā)生器+示波器”測(cè)試方式的直接擴(kuò)充。本測(cè)試儀上能夠設(shè)置多種測(cè)試信號(hào)，并且能把測(cè)試信號(hào)以及好板電路對(duì)測(cè)試信號(hào)的響應(yīng)，關(guān)聯(lián)在一起存放在計(jì)算機(jī)中――建立用戶自己的電路板測(cè)試庫(kù)，用于對(duì)故障板的測(cè)試；也可以把同樣的測(cè)試信號(hào)同時(shí)加在好、壞板的電路上，直接對(duì)照兩者的輸出結(jié)果。
35．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試:
使用模擬信號(hào)提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系，測(cè)試時(shí)無(wú)須加電，通/斷閾值設(shè)置明確。能夠支持對(duì)用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開(kāi)路、短路測(cè)試變的更加方便和快捷。
36. 晶體管輸出特性曲線測(cè)試：
可以測(cè)出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小以及均勻程度，直觀看到晶體管的三個(gè)區(qū)：截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況。可用于晶體管的篩選，尤其在晶體管配對(duì)時(shí)特別有用。
37．填表方式擴(kuò)充模擬器件庫(kù)：
以填表的方式定義模擬器件的各管腳狀態(tài)：如：正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接地腳，以及其他狀態(tài)等。
38．以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù)：
采用HNDDL語(yǔ)言，自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴(kuò)充程序直接開(kāi)放給用戶，由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù)。
39．元器件速查手冊(cè)（電子詞典）：
元件庫(kù)容量近四萬(wàn)種，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
40．維修日記：
供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì)，發(fā)生的重要事情等，長(zhǎng)期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn)，會(huì)大大提高維修水平和技能。
41．后臺(tái)操作記錄：
測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過(guò)程及測(cè)試結(jié)果等信息。
錨點(diǎn)錨點(diǎn)錨點(diǎn)
技術(shù)指標(biāo)
編輯
1．操作系統(tǒng)：支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。
2．通訊接口：主流的USB接口。
3．?dāng)?shù)字測(cè)試通道： 40通道。
4．?dāng)?shù)字通道電平范圍：5V邏輯電平通道。
5．模擬測(cè)試通道： 80路（雙屬性通道）。
6．總線隔離數(shù)字通道： 8通道。
7．后驅(qū)動(dòng)電流： ≥200 mA。
8．?dāng)?shù)字通道測(cè)試速度： （1～45 Ktv/S）8檔可選。
9．在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 11種。
10．?dāng)?shù)字器件的閾值電平： TTL、CMOS5 緊/松調(diào)節(jié)；自定義調(diào)節(jié)。
11.程控外供電源（自動(dòng)控制、自保護(hù)作用）： 5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。
12．電源加電延遲時(shí)間：（0.5～7）秒 6檔可選。
13．測(cè)試探棒: 2組8個(gè)測(cè)試口。
14．模擬信號(hào)掃描電壓幅度： ±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào)。
15．VI分辨率： 8～128點(diǎn)/周期。
16．輸出阻抗匹配： 100Ω / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選。
17．模擬通道大測(cè)試頻率: 1KHZ。
18．脈沖發(fā)生器脈沖幅度： ±1V～±28V。
19．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值： 25Ω±5Ω。
20．腳踏開(kāi)關(guān)：支持。
21．參數(shù)測(cè)試模塊：支持。
23．只讀存儲(chǔ)器作用測(cè)試：
可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。
24．元器件循環(huán)測(cè)試作用：
該作用可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）。
25．?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)作用：
閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。通過(guò)調(diào)整器件的閾值電平，能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動(dòng)能力下降導(dǎo)致的電路故障。
26．加電延遲可選作用：
當(dāng)遇到被測(cè)電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此作用。該選項(xiàng)是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后，需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。
27．測(cè)試夾接觸檢查作用：
主要解決當(dāng)測(cè)試夾和被測(cè)器件接觸不良（如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等）時(shí)，造成的測(cè)試誤判。
28．運(yùn)算放大器在線作用測(cè)試：
使用模擬信號(hào)測(cè)試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性，測(cè)試技術(shù)或國(guó)家發(fā)明，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，包含LM324、LM348等共計(jì)3000多種。
29. 電壓比較器測(cè)試：
模擬電壓比較器用于判斷兩個(gè)信號(hào)的微小差異，通過(guò)本測(cè)試儀可以很容易測(cè)試。
30．光電耦合器在線作用測(cè)試：
由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵(lì)信號(hào)測(cè)試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，準(zhǔn)確度高；有獨(dú)立的光耦測(cè)試器件庫(kù)，
達(dá)500多種。
31．光電耦合器離線直流參數(shù)測(cè)試：
可在離線情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)（如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等）進(jìn)行測(cè)試，解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率；
32．UDT自定義測(cè)試平臺(tái)：
把測(cè)試儀的測(cè)試通道開(kāi)放給用戶，由用戶對(duì)被測(cè)元件或電路的輸入施加激勵(lì)信號(hào)，然后從輸出采集響應(yīng)信號(hào)，類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測(cè)試方法。
33. UDT下AD、DA類器件作用測(cè)試：
用戶通過(guò)UDT控制聰能測(cè)試儀，向被測(cè)試器件（AD/DA）或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵(lì)信號(hào)，從輸出取回相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào)，通過(guò)比較相同激勵(lì)信號(hào)下，器件/電路的實(shí)測(cè)響應(yīng)信號(hào)和預(yù)期（標(biāo)準(zhǔn)）響應(yīng)信號(hào)的符合程度，實(shí)現(xiàn)故障檢測(cè)。
34. AFT電路故障追蹤：
AFT可以看成“信號(hào)發(fā)生器+示波器”測(cè)試方式的直接擴(kuò)充。本測(cè)試儀上能夠設(shè)置多種測(cè)試信號(hào)，并且能把測(cè)試信號(hào)以及好板電路對(duì)測(cè)試信號(hào)的響應(yīng)，關(guān)聯(lián)在一起存放在計(jì)算機(jī)中――建立用戶自己的電路板測(cè)試庫(kù)，用于對(duì)故障板的測(cè)試；也可以把同樣的測(cè)試信號(hào)同時(shí)加在好、壞板的電路上，直接對(duì)照兩者的輸出結(jié)果。
35．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試:
使用模擬信號(hào)提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系，測(cè)試時(shí)無(wú)須加電，通/斷閾值設(shè)置明確。能夠支持對(duì)用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開(kāi)路、短路測(cè)試變的更加方便和快捷。
36. 晶體管輸出特性曲線測(cè)試：
可以測(cè)出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小以及均勻程度，直觀看到晶體管的三個(gè)區(qū)：截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況。可用于晶體管的篩選，尤其在晶體管配對(duì)時(shí)特別有用。
37．填表方式擴(kuò)充模擬器件庫(kù)：
以填表的方式定義模擬器件的各管腳狀態(tài)：如：正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接地腳，以及其他狀態(tài)等。
38．以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù)：
采用HNDDL語(yǔ)言，自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴(kuò)充程序直接開(kāi)放給用戶，由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù)。
39．元器件速查手冊(cè)（電子詞典）：
元件庫(kù)容量近四萬(wàn)種，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
40．維修日記：
供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì)，發(fā)生的重要事情等，長(zhǎng)期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn)，會(huì)大大提高維修水平和技能。
41．后臺(tái)操作記錄：
測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過(guò)程及測(cè)試結(jié)果等信息。
錨點(diǎn)錨點(diǎn)錨點(diǎn)
技術(shù)指標(biāo)
編輯
1．操作系統(tǒng)：支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。
2．通訊接口：主流的USB接口。
3．?dāng)?shù)字測(cè)試通道： 40通道。
4．?dāng)?shù)字通道電平范圍：5V邏輯電平通道。
5．模擬測(cè)試通道： 80路（雙屬性通道）。
6．總線隔離數(shù)字通道： 8通道。
7．后驅(qū)動(dòng)電流： ≥200 mA。
8．?dāng)?shù)字通道測(cè)試速度： （1～45 Ktv/S）8檔可選。
9．在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 11種。
10．?dāng)?shù)字器件的閾值電平： TTL、CMOS5 緊/松調(diào)節(jié)；自定義調(diào)節(jié)。
11.程控外供電源（自動(dòng)控制、自保護(hù)作用）： 5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。
12．電源加電延遲時(shí)間：（0.5～7）秒 6檔可選。
13．測(cè)試探棒: 2組8個(gè)測(cè)試口。
14．模擬信號(hào)掃描電壓幅度： ±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào)。
15．VI分辨率： 8～128點(diǎn)/周期。
16．輸出阻抗匹配： 100Ω / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選。
17．模擬通道大測(cè)試頻率: 1KHZ。
18．脈沖發(fā)生器脈沖幅度： ±1V～±28V。
19．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值： 25Ω±5Ω。
20．腳踏開(kāi)關(guān)：支持。
21．參數(shù)測(cè)試模塊：支持。
