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上海壹僑國際貿易有限公司
主營產品： FILA，DEBOLD，ESTA，baumer，bernstein，bucher，PILZ，camozzi，schmalz |
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更新時間：2025-01-31 09:49:42瀏覽次數：582
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| 產地類別 | 進口 |
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FUNKE+HUSTER EL101-D
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MEROBEL 33600200
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探針是一小段單鏈DNA或者RN段(大約是20到500bp)，用于檢測與其互補的核酸序列。雙鏈DNA加熱變性成為單鏈，隨后用放射性同位素(通常用磷-32)、熒光染料或者酶(如辣根過氧化物酶)標記成為探針。磷-32通常被摻入組成DNA的四種核苷酸之一的磷酸基團中，而熒光染料和酶與核酸序列以共價鍵相連。
當將探針與樣品雜交時，探針和與其互補的核酸(DNA或RNA)序列通過氫鍵緊密相連，隨后，未被雜交的多余探針被洗去。最后，根據探針的標記物種類，可進行放射自顯影、熒光發光、酶聯化學發光等方法來判斷樣品中是否，或者何位置含有被測序列(即與探針互補的序列)。
探針技術論壇是基于Linux開源理念和Hack共享精神為一站的綜合技術交流論壇。
一種Web腳本程序，實質上是通過網頁編程語言(ASP、PHP、ASP等)實現探測服務器敏感信息的腳本文件，通常用于探測目錄、服務器操作系統、CPU數量、Session超時時間、服務器Session變量、 服務器Application變量、組件支持情況、運算速度、磁盤讀寫速度以及網絡連接速度等。
測試針，用于測試PCBA的一種探針。
表面鍍金，內部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。
國外比較有名的生產廠家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT
探針的材質:W，ReW,CU、 A+
1.主要采用的材質為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。
2. A+材質的免清針，這種材質彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。
探針分類
探針根據電子測試用途可分為:A、光電路板測試探針:未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品;
B、在線測試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測探針;高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品;
C、微電子測試探針:即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，但只有一小部分成功生產。
探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環氧樹脂型(Epoxy Type)
垂直探針:垂直型(Vertical Type)
1.ICT探針 (ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業內的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試.也稱ICT測試和FCT測試.也是目應用較多的一種探針.
2.界面探針(Interface Probes)
非標準的探針，一般是為少數做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面.
3.微型探針(MicroSeries Probes)
兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
4.開關探針(Switch Probes)
開關探針單*支探針有兩路電流.
5.高頻探針(Coaxial Probes)
用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的.
6.旋轉探針(Rotator Probes)
彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試.
7.高電流探針(High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.
8.半導體探針 (Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
一般用于優化接觸效果，穩定性好和壽命長.
10.汽車線束測試測試探針
專業用于汽車線束通斷檢測，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A
除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.
探針是一小段單鏈DNA或者RN段(大約是20到500bp)，用于檢測與其互補的核酸序列。雙鏈DNA加熱變性成為單鏈，隨后用放射性同位素(通常用磷-32)、熒光染料或者酶(如辣根過氧化物酶)標記成為探針。磷-32通常被摻入組成DNA的四種核苷酸之一的磷酸基團中，而熒光染料和酶與核酸序列以共價鍵相連。
當將探針與樣品雜交時，探針和與其互補的核酸(DNA或RNA)序列通過氫鍵緊密相連，隨后，未被雜交的多余探針被洗去。最后，根據探針的標記物種類，可進行放射自顯影、熒光發光、酶聯化學發光等方法來判斷樣品中是否，或者何位置含有被測序列(即與探針互補的序列)。
探針技術論壇是基于Linux開源理念和Hack共享精神為一站的綜合技術交流論壇。
一種Web腳本程序，實質上是通過網頁編程語言(ASP、PHP、ASP等)實現探測服務器敏感信息的腳本文件，通常用于探測目錄、服務器操作系統、CPU數量、Session超時時間、服務器Session變量、 服務器Application變量、組件支持情況、運算速度、磁盤讀寫速度以及網絡連接速度等。
測試針，用于測試PCBA的一種探針。
表面鍍金，內部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。
國外比較有名的生產廠家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT
探針的材質:W，ReW,CU、 A+
1.主要采用的材質為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。
2. A+材質的免清針，這種材質彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。
探針分類
探針根據電子測試用途可分為:A、光電路板測試探針:未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品;
B、在線測試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測探針;高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品;
C、微電子測試探針:即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，但只有一小部分成功生產。
探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環氧樹脂型(Epoxy Type)
垂直探針:垂直型(Vertical Type)
1.ICT探針 (ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業內的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試.也稱ICT測試和FCT測試.也是目應用較多的一種探針.
2.界面探針(Interface Probes)
非標準的探針，一般是為少數做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面.
3.微型探針(MicroSeries Probes)
兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
4.開關探針(Switch Probes)
開關探針單*支探針有兩路電流.
5.高頻探針(Coaxial Probes)
用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的.
6.旋轉探針(Rotator Probes)
彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試.
7.高電流探針(High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.
8.半導體探針 (Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
一般用于優化接觸效果，穩定性好和壽命長.
10.汽車線束測試測試探針
專業用于汽車線束通斷檢測，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A
除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.
探針是一小段單鏈DNA或者RN段(大約是20到500bp)，用于檢測與其互補的核酸序列。雙鏈DNA加熱變性成為單鏈，隨后用放射性同位素(通常用磷-32)、熒光染料或者酶(如辣根過氧化物酶)標記成為探針。磷-32通常被摻入組成DNA的四種核苷酸之一的磷酸基團中，而熒光染料和酶與核酸序列以共價鍵相連。
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探針技術論壇是基于Linux開源理念和Hack共享精神為一站的綜合技術交流論壇。
一種Web腳本程序，實質上是通過網頁編程語言(ASP、PHP、ASP等)實現探測服務器敏感信息的腳本文件，通常用于探測目錄、服務器操作系統、CPU數量、Session超時時間、服務器Session變量、 服務器Application變量、組件支持情況、運算速度、磁盤讀寫速度以及網絡連接速度等。
測試針，用于測試PCBA的一種探針。
表面鍍金，內部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。
國外比較有名的生產廠家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT
探針的材質:W，ReW,CU、 A+
1.主要采用的材質為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。
2. A+材質的免清針，這種材質彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。
探針分類
探針根據電子測試用途可分為:A、光電路板測試探針:未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品;
B、在線測試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測探針;高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品;
C、微電子測試探針:即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，但只有一小部分成功生產。
探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環氧樹脂型(Epoxy Type)
垂直探針:垂直型(Vertical Type)
1.ICT探針 (ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業內的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試.也稱ICT測試和FCT測試.也是目應用較多的一種探針.
2.界面探針(Interface Probes)
非標準的探針，一般是為少數做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面.
3.微型探針(MicroSeries Probes)
兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
4.開關探針(Switch Probes)
開關探針單*支探針有兩路電流.
5.高頻探針(Coaxial Probes)
用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的.
6.旋轉探針(Rotator Probes)
彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試.
7.高電流探針(High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.
8.半導體探針 (Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
一般用于優化接觸效果，穩定性好和壽命長.
10.汽車線束測試測試探針
專業用于汽車線束通斷檢測，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A
除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.
探針是一小段單鏈DNA或者RN段(大約是20到500bp)，用于檢測與其互補的核酸序列。雙鏈DNA加熱變性成為單鏈，隨后用放射性同位素(通常用磷-32)、熒光染料或者酶(如辣根過氧化物酶)標記成為探針。磷-32通常被摻入組成DNA的四種核苷酸之一的磷酸基團中，而熒光染料和酶與核酸序列以共價鍵相連。
當將探針與樣品雜交時，探針和與其互補的核酸(DNA或RNA)序列通過氫鍵緊密相連，隨后，未被雜交的多余探針被洗去。最后，根據探針的標記物種類，可進行放射自顯影、熒光發光、酶聯化學發光等方法來判斷樣品中是否，或者何位置含有被測序列(即與探針互補的序列)。
探針技術論壇是基于Linux開源理念和Hack共享精神為一站的綜合技術交流論壇。
一種Web腳本程序，實質上是通過網頁編程語言(ASP、PHP、ASP等)實現探測服務器敏感信息的腳本文件，通常用于探測目錄、服務器操作系統、CPU數量、Session超時時間、服務器Session變量、 服務器Application變量、組件支持情況、運算速度、磁盤讀寫速度以及網絡連接速度等。
測試針，用于測試PCBA的一種探針。
表面鍍金，內部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。
國外比較有名的生產廠家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT
探針的材質:W，ReW,CU、 A+
1.主要采用的材質為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。
2. A+材質的免清針，這種材質彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。
探針分類
探針根據電子測試用途可分為:A、光電路板測試探針:未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品;
B、在線測試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測探針;高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品;
C、微電子測試探針:即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，但只有一小部分成功生產。
探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環氧樹脂型(Epoxy Type)
垂直探針:垂直型(Vertical Type)
1.ICT探針 (ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業內的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試.也稱ICT測試和FCT測試.也是目應用較多的一種探針.
2.界面探針(Interface Probes)
非標準的探針，一般是為少數做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面.
3.微型探針(MicroSeries Probes)
兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
4.開關探針(Switch Probes)
開關探針單*支探針有兩路電流.
5.高頻探針(Coaxial Probes)
用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的.
6.旋轉探針(Rotator Probes)
彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試.
7.高電流探針(High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.
8.半導體探針 (Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
一般用于優化接觸效果，穩定性好和壽命長.
10.汽車線束測試測試探針
專業用于汽車線束通斷檢測，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A
除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.
