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沃特世三重四極桿質譜儀Xevo TQ-S Micro創新性設計制造出占地面積極小的串聯四極桿儀器，可幫助您在廣泛的動態范圍內實現*的低含量定量分析。
·優異的耐用性，實現復雜基質中低含量分析物的重現性檢測
·采用高速采集速率，可靠定量更多分析物
·配備Xtended Dynamic Range（XDR）檢測器，實現簡單易用的方法轉換與高靈敏度
·揭示樣品復雜性，通過RADAR™改進方法開發
沃特世三重四極桿質譜儀Xevo TQ-S Micro緊湊設計鑄就優異性能
沃特世三重四極桿質譜儀Xevo TQ-S Micro采用ZSpray幾何結構離子源，為您帶來優異性能，有效減少中性分子，引導離子通過樣品錐孔進入分析器。Xevo TQ-S Micro采用的StepWave離子導入系統設計旨在應對現代實驗室中高樣品通量和復雜基質帶來的各種挑戰。
沃特世三重四極桿質譜儀Xevo TQ-S Micro系統中的中性分子和氣體載量可顯著降低，使離子能夠更有效傳輸進入四級桿質量分析器，進一步提升靈敏度和穩定性。 此外，Xevo TQ-S Micro業界的緊湊型設計也保證了面積占用。
沃特世三重四極桿質譜儀Xevo TQ-S Micro單次進樣可定量更多分析物
Xccelerated Ion Transfer（XIT）電子裝置采用SpaceWire技術，使儀器能夠以始終如一的性能進行高速數據采集。新一代T-Wave™碰撞室采集速率可達每秒500個MRM通道，減少相互作用的同時有效維持了信號強度。提升后的MS全掃描速度可達20,000 Da/s，能夠在進行MS全掃描和MS/MS采集（RADAR和PICS）快速切換的同時有效降低對工作周期的影響。
此外，快速極性切換可涵蓋單次進樣中的正負模式下離子化化合物。所有的實驗室都需要高質量的可重現性數據來完成可靠的定量分析，因此維持這些速度水平下的性能至關重要。 優良的XDR檢測器將為您提供的擴展動態范圍，提升可用性并降低檢測限，讓方法轉換變得不再困難。
沃特世三重四極桿質譜儀Xevo TQ-S Micro揭示樣品復雜性
定量方法面臨的挑戰：
·除檢測意外污染物外，還需計算化合物濃度。
·對背景基質中的各樣品進行鑒定，提升數據質量。
·檢測靶向多反應監視（MRM）篩選方法未覆蓋的分析物。
·發現更多基質組分，促使改進方法開發。
·使用RADAR同時獲取全掃描（MS）和MRM（MS/MS）數據，讓您從容應對這些挑戰。
產物離子確認掃描（PICS）讓您對結果擁有十足的信心和把握。 通過方法編輯器中的單一復選框進行激活后，PICS 即可在MRM檢測到峰時自動觸發產物離子掃描。
沃特世三重四極桿質譜儀Xevo TQ-S Micro適合所有應用的信息學工具和軟件
·簡單易用，幾乎無需經驗即可操作
InliStart™軟件人性化的界面可以自動執行日常任務，減少復雜操作帶來的負擔。
·簡單的集成式方法數據庫
QUANPEDIA™數據庫可以管理并優化定量LC/MS/MS方法信息，包括自動時段安排的MRM。
·關鍵QC信息的即時交付
使用QC Monitor自動進行實時QC檢查，避免浪費貴重樣品。
·通過簡單的結果查看進行全面的數據處理
除簡化了定量數據的查看和報告之外，TargetLynx XS™現在還能夠利用標準加入法，即使在極大基質差異性的條件下，仍可以精確計算復雜樣品中的分析物濃度。
·可靠的系統性能
通過采用簡潔圖形顯示的TrendPlot輕松實現QC和樣品結果的實時監測，確保能夠快速制定決策，更快地向客戶交付結果。
沃特世三重四極桿質譜儀Xevo TQ-S Micro離子源靈活性是系統的標準性能
通用型離子源結構確保適用于所有應用，鑄就無限潛能。Xevo系列質譜儀均配備多個離子源選項，可輕松實現快速互換，為實驗室各種不同應用提供可選的電離方式。Xevo TQ-S Micro可以與ESI、ESCI、APCI、APPI、APGC、ASAP、nanoflow ESI和ionKey™配合使用，同時兼容DESI（Prosolia）、DART（IonSense）和 LDTD（Phytronix）離子源。
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