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彩譜超大幅面霧度透過率檢測系統(tǒng)
測量光源：CIE-A、CIE-C、CIE-D65
光譜范圍：400-700nm
◆：測量平行平面材料的霧度、總透過率、光譜投射性能及色度LAB參數(shù)
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
彩譜超大幅面霧度透過率檢測系統(tǒng)
這是一臺設(shè)計用于測定塑料、薄膜、玻璃制品、LCD面板等透明、半透明平行平面材料的霧度、總透光率、光譜透射性能以及色度Lab參數(shù)的設(shè)備。
一、產(chǎn)品特性介紹：
1. 具備超大幅面載物平臺，可完成超大幅面樣品的測試，大可支持2.6*1.6m樣品上每個點的測試。
2. 具備超大幅面載物平臺，并具備氣浮功能，大可承受200KG的樣品在平臺表面輕松移動，使超大超重的樣品測試起來輕松方便。
3. 具備翻轉(zhuǎn)上料功能，平臺分為兩部分，一部分固定不動，另一部分可進行翻轉(zhuǎn)，翻轉(zhuǎn)好后，樣品可放置到翻轉(zhuǎn)后的平臺上，再翻轉(zhuǎn)回水平位置，方便超大超重的樣品運送到平臺上測試。
4. 采用一體機電腦作為顯示屏，擁有良好的人機交互界面。
5. 符合以下測試標準：GB/T 2410標準、ASTM D 1003標準。
6. 滿足CIE-A、CIE-C、CIE-D65三種標準照明光源下的霧度與全透過率以及Lab測量。
7. 提供專業(yè)的霧度以及透過率的測量分析軟件，可以滿足用戶對測試數(shù)據(jù)的分析以及管理。
二、產(chǎn)品細節(jié)
三、產(chǎn)品參數(shù)：
名稱 | 超大幅面霧度透過率檢測系統(tǒng) |
光源 | CIE-A、CIE-C、CIE-D65 |
遵循標準 | ASTMD1003、GB/T2410、CIENo.一5 |
測量參數(shù) | 霧度（HAZE)、透過率（T）,CIE Lab |
光譜響應(yīng) | CIE光譜函數(shù)Y/V(λ) |
波長范圍 | 400-700nm |
波長間隔 | 10nm |
光路結(jié)構(gòu) | 0/d |
照明與樣品孔徑尺寸 | 16.5mm/21mm |
測量范圍 | 霧度：0-* |
分辨率 | 霧度：0.01% |
重復(fù)性 | 霧度≤0.1% |
樣品大小 | 厚度≤145mm |
顯示 | 22英寸顯示屏（可定制） |
接口 | USB接口 |
電源 | 220V |
載物面積 | 3100*2100mm（可定制） |
載重 | 大可承受200KG的樣品輕松移動 |
體積：長X寬X高 | 3700*2200*1650mm |
彩譜超大幅面霧度透過率檢測系統(tǒng)