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芯片PCT高壓加速老化試驗箱雙重過熱保護裝置，當鍋內(nèi)溫度過高時，機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度。采用指針顯示正負壓表；時間控制器采LED顯示器；自動水位控制器,水位不足時提供警示。試驗過程中水位不足時能自動補充水位之功能，試驗不中斷，確保使用An全。

高壓加速老化試驗箱特性：

1、試驗過程自動運轉(zhuǎn)至完成結(jié)束、使用簡便。

2、雙重過熱保護裝置，當鍋內(nèi)溫度過高時，機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。

3、LED數(shù)字型溫度控制器可作試驗溫度之設(shè)定、控制及顯示，PID控制誤差±0.1℃。

4、LED數(shù)字型定時器，當鍋內(nèi)溫度到達后才開始計時以確保試驗*。

5、Jing準的壓力、溫度對照顯示。

6、運轉(zhuǎn)時流水器自動排出未飽和蒸汽以達到蒸汽質(zhì)量佳。

7、試驗過程中水位不足時能自動補充水位之功能，試驗不中斷，確保使用An全。

8、鍋內(nèi)An全裝置，鍋門若未關(guān)緊則機器無法啟動。

9、An全閥，當鍋內(nèi)壓力超過工作值自動排氣泄壓。

10、門蓋保護，ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷。

11、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

特點：

1、采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度。

2、采用指針顯示正負壓表；時間控制器采LED顯示器；自動水位控制器,水位不足時提供警示。

3、圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)An全容器標準,可防止試驗中結(jié)露滴水設(shè)計。

4、圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.

5、Jing密設(shè)計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)200h。

6、自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知An全門禁鎖定控制,An全門把設(shè)計,箱內(nèi)有大于常壓時測試門會被反壓保護。

7、內(nèi)壓力愈大時,ASLI,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長PCT壽命。

8、臨界點LIMIT方式自動An全保護,異常原因與故障指示燈顯示。

9、An全閥，當鍋內(nèi)壓力超過工作值自動排氣泄壓。

10、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

滿足標準  

1、GB/T10586-1989濕熱試驗室技術(shù)條件；

2、GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定濕熱試驗；

3、MIL-STD810D方法502.2；

4、GJB150.9-8溫濕試驗；

5、GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗；

芯片PCT高壓加速老化試驗箱儀器用途：適用于國防,航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間.