線性快速溫變循環(huán)測(cè)試箱

產(chǎn)品用途
溫度快速變化試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟邷氐蜏乜焖僮兓沫h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)。

線性快速溫變循環(huán)測(cè)試箱

型號(hào)：TEB-800PF

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：-20℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時(shí)）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃（空載時(shí)）
6.濕度波動(dòng)度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時(shí)間設(shè)定范圍：0～999小時(shí)
12.電源電壓：380V±10%
13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2424.1-2015環(huán)境試驗(yàn)

GB/T2424.2-2015電工電子環(huán)境試驗(yàn)箱：濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則。

GB/T2424.5-2021環(huán)境試驗(yàn) 第3部分

GB/T2424.6-2021環(huán)境試驗(yàn) 第3部分

GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

GB/T2424.27-2013環(huán)境試驗(yàn)

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A:低溫

GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫

GJB150.3-2009 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)

GJB150.4-2009 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)