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安捷倫7500 ICP-MS系列各配件的使用原理圖，你了解嗎？
Agilent 7500 ICP-MS系列工作效果示意總圖
各配件工作原理分解圖如下：
1霧化器/霧化室:工作原理示意圖
霧化室的使用目的：是去除并阻止大液滴進入炬管，保證只有小顆粒的氣溶膠可以進入等離子體，提高等離子體的穩定性和離子化的效率。
霧化器有三種類型如下：
霧化室---雙通路斯科特型：
2 Fassel型炬管: 工作原理示意圖
Fassel型炬管的炬管和霧化室可以通過計算機x、y、z三維調控，調節度可達0.1mm；使用接頭夾固定炬管和連接管，方便器件的維護、更換；通過化學工作站軟件可以控制、移動整個炬管箱至后方，方便用戶直接維護錐和提取透鏡。
3.錐體：工作原理示意圖
錐體分為：采樣錐和截取錐
采樣錐特點：孔徑為1.0MM孔邊緣尖銳可以防止堵塞，鎳錐尖的銅底盤有*的熱導性能。
截取錐特點：標準的鎳制孔徑為0.4mm耐高溫可使鹽份不在其上沉積經久不堵塞。
4.透鏡：工作原理示意圖
透鏡的使用能保證未電離的高基體成分不進入ORS系統，延長ORS系統壽命。透鏡組位在高真空系統外，易于清洗，減少維護。全質譜范圍內的低隨機背景可以消除已電離樣品的基體干擾。
5.四級桿：工作原理示意圖
四級桿電壓的交替改變，產生了電磁場，與離子束發生相互作用。所以在特定的電壓下，只有特定質量數的離子才能穩定的沿軌道穿過四級桿。因此，通過快速掃描、變換電壓的方式，才使不同質量數的離子可以在不同時間內穩定，并穿過四級桿到達檢測器。
6.檢測器：工作原理示意圖
檢測器分兩種：EM檢測器和新型雙模式檢測器
EM檢測器是電子倍增器也是分立的打拿極檢測器每個打拿極都給出電子的“級聯”放大使得信號被級放大。
新型雙模式檢測器其中脈沖模式是計數小于每秒一百萬個的離子數量當撞擊的離子數量大于一百萬個的時候檢測器會自動使用模擬模式進行檢測計數，雙模式檢測器不僅保護了檢測器延長了使用壽命還得出了模擬電壓，電壓變換成數字信號，得出CPS值能測量很寬動態范圍的瞬時信號，從而能增加了檢測樣品的種類。