兩探針電阻率測試儀(測鍺錠)

SZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國國家標準及美國材料與試驗協會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。它適合于測量模截面尺寸是可測量的，而且棒的長度大于橫截面線度的有規則的長棒，例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出，遠離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應（如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等），對測量的影響較小，因此兩探針法的測量精度一般優于四探針法。特別是對多晶材料的測量，由于多晶晶粒間界處，雜質局部偏析可能導致電阻率較大變化，這種影響對四探針法更為嚴重，故不推薦用四探針法測量多晶材料的電阻率。
本儀器除適合測量體形有規則的單晶棒外，也適合測量多晶棒。兩探針法測量水平區熔多晶鍺電阻率，在我國已有四十多年的實踐經驗，對區熔鍺錠橫截面面積的變化已總結出一套計算方法，本儀器采用李賀成教授提出的計算公式編寫程序，可用微機HQ-710C處理區熔鍺錠的測量數據，或采用KDY測量系統軟件測量數據，并根據北京有色金屬研究總院余懷之教授的提議，擴大了微處理機的數據處理范圍。
      本儀器主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試臺及兩探針頭組成。儀器的特點是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩定。本機配有恒流源開關，在測量某些材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生，更好地保護被測材料。儀器配置了本公司的專li產品：“小游移探針頭”，間距為10mm的兩探針頭探針游移率在0.02～0.05%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度。本機需配用HQ-710C數據處理器或KDY測量系統軟件，置入必須的數據后，處理器會配合探頭在鍺錠上移動測量，自動計算、打印出各點的電阻率、電阻率的最大值、電阻率最小值，給測量帶來很大方便。
SZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀主機技術參數
（1）測量范圍：
 可測電阻率：鍺晶體0.1-100Ω·cm
 可測鍺錠尺寸：最大長度700mm；最大高度50mm；最大寬度60mm。
（2）恒流源：
 輸出電流：DC 0.004-100mA  五檔連續可調
 量程：0.004-0.01mA   
          0.04-0.10mA
          0.4-1.0mA 
          4.0-10mA
          40-100mA
恒流精度：各檔均優于±0.05%
（3）直流數字電壓表：
 測量范圍：0-199.99mV
 靈敏度：10μA
 基本誤差：±（0.004%讀數+0.01%滿度）
 輸入阻抗：≥1000MΩ
（4）電阻測量誤差：≤0.3%
（5）兩探針頭：KDT-5
 探針間距：10.00±0.02mm  
 游移率：0.02-0.05%          
 探針壓力：4±1N/單針
（6）供電電源：
 AC   220V   ±10%   50/60Hz   功率：12W
（7）使用環境：
 溫度：23±2℃   相對溫度：≤65%
 無較強的電場干擾，無強光直接照射。
（8）重量、體積：
 主機重量：7.5Kg
 體積：390×340×190（單位：mm  長度×寬度×高度）

兩探針電阻率測試儀(測細硅芯)

SZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。配套測試架適合于測量硅芯電阻率。兩探針法的測量精度一般優于四探針法。

整套儀器有如下特點

1、配有雙數字表：一塊數字表在測量顯示電壓的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全過程中的電流變化，使操作更方便，測量更精確。

數字電壓表量程：0—199.99mV  靈敏度：10μV  輸入阻抗：1000ΜΩ  基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度)

2、可測電阻率范圍：0.001—10000Ω·cm。

3、測量電流由高度穩定（萬分之幾精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響。電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調節范圍從0.001~100mA

4、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。

5、可加配電腦，安裝KDY測量系統，實現數據采集、自動換向測量、求平均值，計算、存儲并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內容。

兩探針電阻率測試儀(測檢磷檢硼棒)

SZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。它適合于測量橫截面面積均勻的圓型，方型或矩形單晶錠(如硅芯、檢磷、硼棒、區熔鍺錠等)的電阻率，測樣長度與截面最大尺寸之比應不小于3：1。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出，遠離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應（如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等），對測量的影響較小，測量結果為橫截面的平均電阻率，兩探針法的測量精度一般優于四探針法。

整套儀器有如下特點:

1、配有雙數字表：一塊數字表在測量顯示電壓的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全過程中的電流變化，使操作更方便，測量更精確。

數字電壓表量程：0—199.99mV  靈敏度：10μV  輸入阻抗：1000ΜΩ 基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度)

2、可測電阻率范圍：0.001—10000Ω·cm。

3、測量電流由高度穩定（萬分之幾精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響。電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調節范圍從0.001~100mA

4、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。

5、可加配電腦，安裝KDY測量系統，實現數據采集、自動換向測量、求平均值，計算、存儲并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內容。