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隨著藥物晶型監管力度逐步增加，單純的定性分析原料藥API或制劑中的晶型已不能滿足質量研究的要求，對藥物制劑中的有效晶型的定量分析，是藥物生產中質量控制過程中非常重要的環節。 X 射線粉末衍射可用于定量混合物中結晶相的強大技術，其可以提供每個物相 0.1 - 1 wt.% 的檢出限，廣泛應用于制藥工業、材料學研究等工業、學術應用的定量分析。目前對于藥物制劑中的晶型或是雜質定量分析方法有標準曲線法（圖1）， Rietveld全譜擬合法（圖2）等。除了常規的定量分析PXRD還能對藥物制劑進行結晶度的分析（圖3）。 

（圖1）不同含量的雜質晶型的XRPD圖譜，標準曲線

（圖2） Rietveld全譜擬合定量分析碳酸鑭藥物中堿式碳酸鑭晶型I（HC(I)）和晶型II（HC(II)）的含量

（圖3） 藥物樣品結晶度分析